PDWin

PDWIN - порошковые методы рентгенодифракционного анализа
Пакет программ PDWin предназначен для автоматизации процесса обработки порошковых
рентгенограмм, снятых на дифрактометрах ДРОН-4, ДРОН-6 или ДРОН-7 и решения различных
кристаллографических и физических задач для поликристаллических материалов.
Комплекс PDWin состоит из следующих программ:













предварительная обработка DRWin. Свид. о рег. № 2000610673 от 24.07.2000.
количественный анализ Quan. Свид. о рег. № 2000611264 от 06.12.2000.
уточнение параметров элементарной ячейки Param. Свид. о рег. № 2001611418 от 25.10.2004.
автоиндицирование Ind. Свид. о рег. № 2004612095 от 13.09.2004.
расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern. Свид. о рег. № 2002611002 от 20.06.2002.
уточнение методом Ритфельда Rietveld. Свид. о рег. № 2005610651 от 17.03.2005.
качественный анализ цементов – QualCem. Свид. о рег. № 2007611378 от 29.03.2007
количественный анализ цементов – QuanCem. Свид. о рег. № 2007611889 от 10.05.2007
расчет макронапряжений- MacroStress. Свид. о рег. № 2005612590 от 05.10.2005
обработка полюсных фигур – PoleFigTreatment. Свид. о рег. № 2006612669 от 28.07.2006
расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций – Size&Strain. Свид. о рег. №
2008613973 от 20.08.08
поправка по стандарту – Stand.
набор образца вручную - NewSmp
Методико-математическое обеспечение для рентгенодифракционного анализа - комплекс PDWin
(Windows-2000/XP/Vista) поставляется в выбранной заказчиком комплектности.
Предварительная обработка DRWin
Программа предназначена для определения характеристик дифракционных пиков. Обработка
дифрактограмм проводится в два этапа.


На первом этапе методом первой и второй сглаженных производных определяются фон и
положение дифракционных максимумов. Фон аппроксимируется полиномом степени от
первой до седьмой.
На втором этапе характеристики пиков уточняются методом подбора профиля. Профиль пика
аппроксимируется асимметричной дублетной функцией псевдо-Фойгта нелинейным методом
наименьших квадратов. Вводятся поправки в значения углов 2 по внешнему или
внутреннему стандарту.
Количественный анализ Quan
Программа осуществляет определение концентраций компонентов, составляющих исследуемый
образец. Предлагаются следующие методы проведения анализа
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
Полный анализ многофазной смеси.
Анализ n-компонентной системы.
Анализ образца с известным МКП (массовым коэффициентом поглощения).
Метод внутреннего стандарта.
Метод корундовых чисел.
Метод добавок.
Метод разбавления.
Автоиндицирование Ind
Программа осуществляет определение индексов дифракционных отражений hkl и параметров
элементарной ячейки поликристаллических образцов.
Входными данными в процедуру индицирования являются межплоскостные расстояния
исследуемого образца и его сингония.
Программа использует метод перебора всех возможных решений в заданных интервалах индексов
hkl для первых 20 линий. Отбираются несколько наилучших, в смысле критерия де Вольфа, решений
для дальнейшего анализа. Выбранное решение уточняется по всем линиям. Результатом работы
программы является набор индексов отражений, линейные и угловые параметры и объем
элементарной ячейки.
Найденная примитивная ячейка может быть преобразована к приведенной ячейке по алгоритму
приведения по Делоне, а также может быть преобразована к другой ячейке при помощи матрицы
преобразования, задаваемой пользователем.
Уточнение параметров элементарной ячейки Param
Программа предназначена для определения параметров элементарной ячейки кристаллического
образца любой сингонии с известными индексами отражений. При расчете параметров используется
весовая схема метода наименьших квадратов. Параметры элементарной ячейки определяются по
линиям с известными индексами отражений. Исходными данными для расчета являются
экспериментальные значения углов 2 и соответствующие им индексы hkl. Желательно, чтобы
количество рефлексов не менее чем в 3 раза превышало количество определяемых параметров.
Вес каждой линии считается из погрешности углов 2. Погрешности могут задаваться пользователем
с клавиатуры.
Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern
Программа расчета теоретической дифрактограммы предназначена для построения дифрактограмм
веществ, исходя из кристаллоструктурных данных.
Исходной информацией для программы являются: пространственная группа, параметры
элементарной ячейки, химический состав и координаты атомов. Программа может использовать в
качестве входных файлов файлы форматов SHELX и СIF.
Выходной файл программы содержит список межплоскостных расстояний, символов
дифракционных отражений hkl, структурных факторов, абсолютных и относительных
интенсивностей пиков.
Программа определяет кратность атомной позиции, определяет фиксированные и связанные атомные
и тепловые параметры (изотропные и анизотропные), плотность вещества, линейные и массовые
коэффициенты поглощения, массу и объем элементарной ячейки. Возможен учет изоморфизма (до 3х атомного) и дефицита заселенности позиции.
Программа позволяет рассчитать теоретические дифрактограммы для нескольких веществ,
смоделировать образец с заданными концентрациями и сравнить модельный образец с
экспериментальным образцом.
Рассчитанные интегральные интенсивности пиков веществ можно использовать в качестве
интенсивностей пиков чистых фаз при проведении количественного анализа. Профиль
дифракционного пика представляется либо дублетной функцией Псевдо-Фойгта, либо
инструментальной функцией, которая является сверткой инструментальных функций
гониометрического устройства дифрактометра. Последняя может быть полезна при исследовании
микронапряжений и размеров кристаллитов.
Уточнение методом Ритфельда Rietveld
Программа предназначена для уточнения атомных структур веществ по поликристальным
экспериментальным данным.
Входными данными в программу являются дифрактограмма анализируемого образца, общие и
структурные данные фаз, входящих в исследуемый образец. Программа может использовать
информацию из файлов, создаваемых наиболее распространенными структурными пакетами, а
именно: файлы форматов CSD, SHELX и СIF (Crystallographic Information File). Выходной файл
программы содержит список уточненных структурных параметров анализируемых фаз.
Программа позволяет рассчитать и построить порошковую дифрактограмму от однофазного и
полифазного образца с автоматическим учетом симметрии по символу пространственной группы и
расчетом атомных факторов рассеяния с учетом аномального рассеяния по химическому составу
образца.
В программе реализована возможность учета изоморфизма (до трех химических элементов в одной
правильной системе точек), генерация матриц симметрии по символу пространственной группы с
определением фиксированных и связанных координатных и тепловых (анизотропных) параметров
модифицированным методом Жордана.
Программу можно использовать для проведения количественного фазового анализа по известной
атомной структуре фаз.