РКЭМ-2014

XХV Российская конференция по электронной микроскопии
(РКЭМ-2014)
2 - 6 июня 2014, Черноголовка
Добрый день,
Компания ОПТЭК приглашает Вас посетить XХV Российскую конференцию
по электронной микроскопии (РКЭМ-2014), которая пройдет 2 - 6 июня 2014 года в
Черноголовке.
На конференции будут представлены доклады сотрудников компании ОПТЭК и Bruker,
посвященные темам корреляционной микроскопии Carl Zeiss и методам атомно-силовой
микроскопии для неразрушающего исследования наномеханических свойств
поверхности.
В рамках конференции у Вас будет уникальная возможность принять участие в обзорнодемонстрационных мастер-классах, которые будут проводиться
на высокопроизводительной двухлучевой станции AURIGA и атомно-силовом
микроскопе Dimension Icon/FastScan.
Желающим посетить мастер-классы, а также провести измерения своих образцов
(материаловедение, биология, геология, электроника) необходимо заранее
зарегистрироваться.
Зарегистрироваться
Или скопируйте ссылку:
https://docs.google.com/forms/d/1d7oAY1yfukcba32EO1gxEfDLywU-t74EgRBSaSY5u58/viewform
Точное время и место проведения мастер-классов будет сообщено всем зарегистрировавшимся позже.
По всем вопросам относительно участия компании ОПТЭК в конференции Вы можете обращаться к специалисту по маркетингу
Санеевой Татьяне:
[email protected]
Перейти на сайт конференции
В рамках конференции Компания ОПТЭК будет проводит уже ставшие традиционными
обзорно-демонстрационных мастер-классах, которые будут проводиться
на высокопроизводительной двухлучевой станции AURIGA и атомно-силовом
микроскопе Dimension Icon/FastScan.
Используемое оборудование
Приглашает всех желающих принять участие
Организационную информацию см. здеь
В рамках конференции компания ОПТЭК приглашает всех желающих принять участие в
обзорно-демонстрационных мастер-классах, которые будут проводиться
на высокопроизводительной двухлучевой станции AURIGA и атомно-силовом
микроскопе Dimension Icon/FastScan.
Участники мастер-классов смогут провести измерения своих образцов
(материаловедение, биология, геология, электроника). Для этого необходимо заранее
зарегистрироваться. Подробнее см. здесь.
Информацию по организации и регистрации
Компания ОПТЭК приглашает Вас принять участие в обзорно-демонстрационных
мастер-классах, которые будут проводиться на высокопроизводительной двухлучевой
станции AURIGA и атомно-силовом микроскопе Dimension Icon/FastScan.
Желающие посетить мастер-классы смогут провести измерения своих образцов
(материаловедение, биология, геология, электроника). Для этого необходимо заранее
зарегистрироваться.
Зарегистрироваться
Или скопируйте ссылку:
https://docs.google.com/forms/d/1d7oAY1yfukcba32EO1gxEfDLywU-t74EgRBSaSY5u58/viewform
На конференции будут представлены доклады сотрудников компании ОПТЭК и Bruker,
посвященные темам корреляционной микроскопии Carl Zeiss и методам атомно-силовой
микроскопии для неразрушающего исследования наномеханических свойств
поверхности.
Точное время и место проведения мастер-классов будет сообщено всем зарегистрировавшимся позже.
По всем вопросам относительно участия компании ОПТЭК в конференции Вы можете обращаться к специалисту по маркетингу
Санеевой Татьяне:
[email protected]
Перейти на сайт конференции