Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова Факультет фундаментальной физико-химической инженерии (Физико-химический факультет) Институт физики твёрдого тела РАН Отчет по научно-производственной практике Студента третьего курса Гордеева Станислава Олеговича Руководитель практики Долганов В.К., д.ф.-м.н. Черноголовка, 2013 г. Оглавление Введение............................................................................................................................. 3 Актуальность.................................................................................................................... 3 Цель работы. ................................................................................................................... 4 Последовательность прохождения практики. ............................................................... 4 Характеристика предприятия. ........................................................................................... 6 Справка о компании. ....................................................................................................... 6 Научные задачи ИФТТ ................................................................................................... 6 Краткое описание процесса .............................................................................................. 8 Методы, используемые в работе. .................................................................................. 8 Образец ......................................................................................................................... 10 Теоретическое обоснование. ....................................................................................... 10 Результаты исследования. ............................................................................................ 12 Заключение....................................................................................................................... 16 Список литературы. .......................................................................................................... 17 2 Введение. Актуальность. Жидкие кристаллы – это фазовое состояние, по своей упорядоченности промежуточное между кристаллом и изотропной жидкостью. Жидкие кристаллы представляют собой вязкие жидкости, состоящие из молекул вытянутой или дискообразной формы [1]. Трансляционное упорядочение молекул в жидких кристаллах частично или полностью отсутствует, однако молекулы упорядочены ориентационно. Жидкие кристаллы обладают как свойствами жидкостей (текучесть), так и кристаллов (анизотропия). По своим общим свойствам жидкие кристаллы можно разделить на две большие группы: 1) Лиотропные, представляющие собой двух- или более компонентные системы, образующиеся в смесях стержневидных органических молекул и воды (или других полярных растворителей). Эти стержневидные молекулы имеют на одном конце полярную группу, а большая часть стержня представляет собой гибкую гидрофобную углеводородную цепь. Такие жидкие кристаллы весьма многочисленны и играют большую роль в жизненных процессах, входя в состав мышечных тканей, мозга, нервов, мембран. 2) Термотропные жидкие кристаллы, существующие в определенном интервале температур и давлений. Основная область их применения – информационная техника (дисплеи часов, телевизоров, мониторов). Термотропные жидкие кристаллы, в свою очередь, делятся на три больших класса: 1) Нематические жидкие кристаллы. Расположение центров масс их молекул не обладает трансляционным упорядочением, но молекулы нематика расположены приблизительно параллельно, и дальний порядок наблюдается только по отношению к их ориентации. 2) Холестерические жидкие кристаллы - это те же нематические жидкие кристаллы с тем различием, что они состоят из хиральных молекул. Как следствие этого, их 3 структура имеет винтовую ось симметрии, расположенную нормально к предпочтительной ориентации молекул. 3) Смектические жидкие кристаллы - более упорядоченные, в дополнение к ориентационному упорядочению молекул обладающие слоевым трансляционным упорядочением. Наиболее значительным свойством некоторых жидких кристаллов, в частности нематических, является их способность изменять ориентацию молекул под воздействием электрического поля. В данной работе изучается явление нестабильности однородно ориентированного нематического жидкого кристалла во внешнем электрическом поле (электрогидродинамическая неустойчивость). При некоторой величине поля образуется структура, представляющая собой систему чередующихся темных и светлых полос, называющуюся доменами КапустинаВильямса [2]. Цель работы. Цель работы – познакомиться с явлением электрогидродинамической неустойчивости в нематических жидких кристаллах, изучить поведение системы в режиме неустойчивости, определение количественных величин, характеризующих данное явление (порог возникновения доменов Капустина-Вильямса и периодичность структуры). Последовательность прохождения практики. - Собрать две установки для исследования: 1) Для наблюдения структуры в микроскоп 2) Для получения дифракционной картины - Сделать серию снимков при различном поле с использованием микроскопа, определить пороговое значение напряжения и период структуры. - Получить зависимость интенсивности 1-го максимума дифракционной картины от напряжения, приложенного к образцу. 4 - Определить периодичность структуры из формулы дифракционной решетки и сравнить со значением, полученным с помощью прямых наблюдений. 5 Характеристика предприятия. Справка о компании. Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) был образован 15 февраля 1963 г. Академией Наук СССР с целью обеспечить оптимальное сочетание и взаимодействие фундаментальных исследований в области физики конденсированных сред и физического материаловедения. Решающий вклад в формирование задач и принципов организации ИФТТ сделали выдающийся ученый-металловед, академик Георгий Вячеславович Курдюмов, академик Юрий Андреевич Осипьян и чл.корреспондент Чеслав Васильевич Копецкий. В момент создания ИФТТ была угадана многообещающая перспектива нашей области науки, сочетающей высокий уровень показателей активности, востребованности новых результатов и неожиданность уже полученных. Дальнейшее развитие подтвердило правильность исходных идей, заложенных в основание нашего Института. В настоящее время ИФТТ представляет собой одно из крупнейших академических учреждений физического профиля, является признанным научным центром, успешно развивающим многообразные работы по широкому фронту научных задач. За время существования в ИФТТ приобрели квалификацию и получили возможность вести научные исследования более двух сотен научных сотрудников. Было защищено около 60 докторских и около 300 кандидатских диссертаций. Из рядов сотрудников ИФТТ выдвинулись три действительных члена Российской Академии Наук (РАН) и пять членов-корреспондентов РАН. Научные задачи ИФТТ являются сочетанием главнейших составляющих: экспериментальные и теоретические направления физики твердого тела, как раздела физики; физическое материаловедение, как совокупность пересекающихся разделов фундаментальный физики, физико-химии, механики; Необходимая экспериментально-технологическая база обеспечивает проведение фундаментальных и прикладных исследований. Для успешного решения научных задач в Институте развита: криогенная техника, работает станция ожижения гелия; 6 техника для исследования электронных и оптических свойств материалов при температурах жидкого гелия (и ниже), и в сверхвысоких магнитных полях: EPR, NMR, люминисценция, комбинационное рассеяние, транспортные измерения и т.д. (всего около 200 работающих установок); все необходимое для анализа кристаллических структур: современные автоматические дифрактометры с приставками для низких-высоких температур, электронные микроскопы сканирующие, просвечивающие, прямого разрешения, туннельная и Оже-микроскопия; специальная аппаратура высоких давлений до 500 кбар используется для исследования структурных трансформаций и синтеза новых гидридов интерметаллических соединений; техника сверхвысоких магнитных полей и сверхнизких температур применяется в экспериментах с макроквантовыми объектами; выращиваются разнообразные кристаллы полупроводниковых соединений, диэлектриков, тугоплавких металлов, монокристаллы высокотемпературных сверхпроводников, имеется реальный опыт выращивания больших кристаллов фуллерена - новой формы углерода, обеспечен необходимый уровень химических методов анализа, очистки и синтеза; обеспечены различные методы обработки материалов: пластическая деформация прокаткой, прессованием, волочением, отжиг в защитной атмосфере молибдена, ниобия, вольфрама в том числе монокристаллов и изделий из них; обеспечены работы с композитными и нанокристаллическими материалами, включая приготовление сплавов, механические испытания при заданных температурах. Опыт работы Института показал, что развитая и постоянно обновляемая экспериментальная приборная база является достаточно эффективной в решении задач, возникающих в современных условиях бурного развития физического материаловедения и его прикладных разделов, связанных с высокой технологией. 7 Краткое описание процесса Методы, используемые в работе. На рисунке 1 и 2 показаны установки, использовавшиеся в работе. На первом рисунке проиллюстрировано как на образец МББА (О) посредством генератора (Г) и усилителя (У) подается напряжение, которое измеряется вольтметром (В). Свет от лампы (Л) проходит через поляризатор (П) и освещает образец. На экран компьютера (Э) подается изображение посредством камеры (К), установленной на окуляре микроскопа (М). В результате мы можем наблюдать процессы, происходящие с ячейкой в режиме реального времени на экране с увеличением микроскопа. С помощью камеры снимались фотографии и видео образца при различных величинах подаваемого напряжения. На втором рисунке изображена установка для исследования дифракции в образце. От лазера (Л) подается излучение, которое после светофильтра (Ф1) падает на ячейку кристалла (О) и дифрагирует. На экране (Э) наблюдается дифракционная картина, фотодиод (Ф) со светофильтром (Ф2) направлен на первый максимум. На выходе фотодиода подключен вольтметр (В2), показывающий интенсивность излучения. В экспериментах использовался сигнал синусоидальной формы с частотой 120 Гц. 8 Рисунок 1- установка (1) для наблюдения явления неустойчивости в жидком кристалле с помощью оптического микроскопа. К – камера; Э – экран; Г – генератор; У – усилитель; В – вольтметр; М – микроскоп; О – образец; П – поляризатор ; Л – лампа Рисунок 2 – принципиальная схема установки (2) для исследования дифракции на периодической структуре жидкого кристалла. Г – генератор; У – усилитель; В – вольтметр; Л – лазер; Ф1,Ф2 – светофильтры; Ф – фотодиод; О – образец; Э – экран 9 Образец На рисунке 3 изображена ячейка, использовавшаяся в процессе работы. Ячейка представляет собой два стекла, на поверхность которых нанесены полупрозрачные электроды и полимерный ориентант. Между стеклами заключен нематический жидкий кристалл метоксибензолиден-n-бутиланилин. Толщина ячейки составляет 40 мкм, граничные условия – планарные (молекулы ориентированы своими длинными осями параллельно опорным стеклам) Рисунок 3 – схематическое устройство ячейки, использовавшейся в эксперименте. Теоретическое обоснование. В работе используется нематик МББА с анизотропией проводимости ∆𝜎 > 0 и диэлектрической анизотропией перпендикулярно электрическому диэлектрической анизотропии. Δε<0. Ориентация полю При (рис. 3) отсутствии длинных выгодна с осей точки электропроводности молекул зрения жидкого кристалла приложенное к ячейке поле не должно приводить к переориентации молекул. Образование неустойчивости связано с анизотропией проводимости и может быть объяснено следующим образом [2,3]. Предположим на время, что 𝜎⊥ = 0. Представим, что в объеме жидкого кристалла с преимущественной ориентацией L имеется область с другой, перпендикулярной ориентацией молекул. Тогда в области А поле переместит заряды вдоль линии С-С, а вдоль линии В-В заряды не переместятся 10 (𝜎⊥ = 0). В областях В положительные заряды сместятся в направлении, показанном стрелками, а на границах с областью А образуется избыточный заряд. В результате по периметру области А возникнет несимметричное относительно направления поля распределение зарядов. Суммарный дипольный момент Р области А взаимодействует с полем Е , стремясь повернуть за собой всю область А. Рисунок 4 – возникновение пространственного заряда вследствие анизотропии электропроводности. Рассмотрим теперь слой МББА в планарной ячейке, соответствующей нашей экспериментальной геометрии. Электрическое поле приложено вдоль оси 𝑋3 (рис. 5а). Пусть по случайной причине, например в результате флуктуаций, в слое возникла деформация (рис. 5б). Тогда в области, где возникла флуктуация ориентации, появится пространственный заряд. Этот заряд создает дополнительное электрическое поле вдоль оси 𝑋1 . Теперь в рассматриваемой области на нематик будет действовать суммарное поле 𝐸1 + 𝐸3 . Оно будет стремиться повернуть молекулы перпендикулярно вектору напряженности поля (∆𝜀 < 0), т.е. появится момент, стремящийся повернуть 11 молекулы МББА в направлении увеличения возникшей флуктуации деформации (рис. 5в). В конечном итоге это вызовет циркуляционные потоки, которые и установят окончательную ориентацию директора (рис. 5г). При наблюдении в поляризованном свете эти домены будут видны в виде чередующихся светлых и тёмных полос. Рисунок 5: механизм образования периодической структуры в нематическом жидком кристалле с ∆𝜀 < 0, ∆𝜎 > 0 (по книге [2]). Результаты исследования. На рисунке 6 изображены фотографии образца МББА, полученные с помощью установки 1. На ячейку подается электрическое поле, и его величина постепенно возрастает. На первой фотографии показан образец с допороговым напряжением. Затем при пороговом напряжении постепенно появляется система чередующихся темных и светлых параллельных полос (фото 2 - домены Капустина-Вильямса). При дальнейшем увеличении поля сначала появляются динамические искажения полос (фото 3). На фотографии 4 изображено состояние ячейки при больших полях – быстрое хаотическое движение. 12 1 2 3 4 Рисунок 6 – Вид образца при различной величине приложенного напряжения (горизонтальный размер каждого фото 480 мкм) 1: U = 5.690 V; 2: U = 5.742 V; 3: U = 7.867 V; 4: U = 50.0 V. Падающий на образец свет линейно поляризован в вертикальном направлении. Периодическая структура образца, показанная на рисунке 6, играет роль дифракционной решетки, что позволяет исследовать ее с помощью установки 2. При прохождении луча лазера через ячейку наблюдается картина максимумов и минимумов, изображенная на рисунке 7. 13 Рисунок 7 – картина дифракции лазерного луча, прошедшего через ячейку при поле несколько выше порогового U = 6 V. С помощью формулы дифракционной решетки 𝑑𝑠𝑖𝑛(𝜑) = 𝑘𝜆 (рис.10) был высчитан период структуры: Рисунок 10 – к расчету периода структуры. 14 𝐵𝐶 20 1) Из ⊿𝐴𝐵𝐶: 𝜑 = 𝑎𝑟𝑐𝑡𝑔 ( ) = 𝑎𝑟𝑐𝑡𝑔 ( ) = 1,35° 𝐴𝐵 850 2) 𝑑 = 650∗10−9 sin(1,35° ) = 27,5 ± 1мкм Таким образом, периодичность структуры составляет 27,5 ± 1мкм, что в пределах точности измерений совпадает с результатом прямых измерений периода по фотографии. На рисунке 8 представлена зависимость интенсивности первого максимума дифракционной картины от напряжения, приложенного к ячейке. Максимум интенсивности соответствует наиболее четким параллельным полосам. 1,2 1,0 Intensity 0,8 0,6 0,4 0,2 0,0 5,2 5,4 5,6 5,8 6,0 6,2 6,4 6,6 6,8 7,0 Voltage (V) Рисунок 8 - Зависимость интенсивности дифракционного максимума от напряжения, приложенного к ячейке. 15 Заключение Мною было начато изучение электрогидродинамической неустойчивости в нематическом жидком кристалле с отрицательной диэлектрической анизотропией. 1) Исследовано образование доменов Капустина-Вильямса в жидком кристалле МББА, определено пороговое поле образования доменов. 2) Исследована дифракция света на системе параллельных доменов и зависимость интенсивности дифракции от поля. В следующем учебном году планируется продолжить исследование неустойчивостей в жидких кристаллах. 1) Будет изучаться поведение системы в хаотическом режиме при больших полях, исследоваться корреляции в движениях жидкого кристалла. 2) Будут изучаться эффекты, вызванные электрическим полем в жидком кристалле с положительной диэлектрической анизотропией. 16 Список литературы. 1. П.-Ж. де Жен, Физика жидких кристаллов, перевод с англ., издательство «Мир», Москва, 1977 г. 2. А.С. Сонин, Введение в физику жидких кристаллов, издательство «Наука», главная редакция физико-математической литературы, Москва 1983 г. 3. Л.М. Блинов, электро- и магнитооптика жидких кристаллов, издательство «Наука», главная редакция физико-математической литературы, Москва, 1978 г. 17