020100.68 Основы электронной микроскопии

Основы электронной микроскопии
Направление подготовки
020100.68 Химия
ИЕН.68.2011
Профиль
Физическая химия
Квалификация
магистр
Страница 1 из 4
Страница 2 из 4
8. УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
8.1.
Рекомендуемая литература
8.1.1. Основная литература
1. Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М. Электронная микроскопия
тонких кристаллов. – М.: Мир, 1968. -574 С.
2. Томас Г., Гориндж М.Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов.
– М.: Наука, 1983. – 316 С.
3. Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении / Под. Ред.
Амелинкса С., Геверса Р., Ван Ладе Дж. – М.: Металлургия, 1984. – 502 С.
4. Каули Дж. Физика дифракции. – М.: Мир, 1979.-432 С.
5. Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Грена Дж.,
Гольдштейна Дж., Джоя Д., Ромига А. – М: Металлургия, -1990. – 584 С.
6. Спенс Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения.
7. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия / Под ред.
Уманского Я.С., Скакова Ю.А., Иванова А.Н., Расторгуева Л.Н. – М.: Металлургия,
1982. – 632С.
8. Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Под Ред. Мориса Ф., Мени
Л., Тиксье Р. – М.: Металлургия, 1985. – 408 С.
9. Шаскольская М.П. Кристаллография. – М.: Высшая школа, 1976. – 350 С.
8.1.2. Дополнительная литература
1.
2.
3.
4.
8.1.3.
Williams D.B., Carter C.B. Transmission electron microscopy. Textbook for Material
Science. –
N.Y.: Springer Science Business Media, 2009. V.1-4.- 832 P.
Kirkland E.J. Advanced Computing in Electron Microscopy. – N.Y.: Plenum Press, 1998.
– 252 P.
Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science 2005 // J. Materials Science.
2006. V.41. P. 4381-4603.
Современная кристаллография Т.1,2 / Под ред. Вайнштейна Б.К.– М.: Наука, 1979.
Методические разработки кафедры
Шалаева Е.В. «Просвечивающая электронная микроскопия в исследовании
структуры и структурно-фазовых превращений в неорганических соединениях и
сплавах »
8.2.
Программное обеспечение
1. Mathcad-11
2.ATOMS
3. CaRIne Crystallography
4. JEMS
8.3.
Базы данных, информационно-справочные и поисковые системы
1. http://www.springerlink.com/content/978-0-387-76501-3#section=109713&page=1
\ Чтение
online “Transmission Electron Microscopy”, D. Williams, C.B. Carter
2. http://www.eurmicsoc.org/contact.htm \ Сайт Европейского электронно-микроскопического
сообщества
3. http://www.matter.org.uk/tem/default.htm \ Основы просвечивающей электронной
микроскопии, обучающий сайт.
4. http:// www.jeol.com \ Микроскопы, приставки, аксессуары.
5. http:// www.gatan.com \ Микроскопы, приставки, аксессуары, программные продукты
6. http://www.analitex.com \ Программные продукты по электронной микроскопии
10.4. Перечень ключевых слов дисциплины
Страница 3 из 4
№
разде
ла
5.1.1
5.1.2
5.1.3
Наименование раздела
Ключевые слова раздела
упругое рассеяние электронов, дифракция,
условия дифракционного отражения, прямая и
обратная решетка, дифракционная и
высокоразрешающая микроскопия
Применение просвечивающей микроструктура, кристаллография дефектов,
электронной микроскопии для дифракционный контраст изображений
структурных дефектов, диффузное рассеяние
решения задач физической
электронов и ближний порядок, доменная
химии и физического
структура сверхструктур, матричный метод
материаловедения
Основы просвечивающей
электронной микроскопии и
электронной дифракции
Методы сканирующей и
аналитической электронной
микроскопии
электронный зонд, неупругое рассеяние
электронов, упругое некогерентное рассеяние
электронов, вторичные, обратно-отраженные
электроны, характеристическое рентгеновское
излучение, энергодисперсионный анализ,
спектроскопия потерь электронов, растровая
микроскопия
Страница 4 из 4