РЕНТГЕНОВСКАЯ ОПТИКА 2 Проф., дфмн Суворов Э.В. ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК • Управление рентгеновскими пучками (многослойные зеркала, дифракционные зонные пластинки Френеля, монохроматоры, модуляторы, скоростные затворы и пр.) • Дифракционная оптика реального кристалла. Рентгеновский дифракционный контраст дефектов. • Динамическая дифракции в кристаллах с дефектами РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ ДЕФЕКТОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ Схема Ланга K2 K 1 R0 RH Сканирование Ростовые дефекты в монокристалле кремния ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК Ростовые дефекты в монокристалле кремния A.R.Lang, Acta Gryst.12, 249-250, (1959) ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК Дислокационные полупетли введенные в монокристалл кремния при пластическом изгибе В.Н.Ерофеев, В.И.Никитенко, В.И.Пловинкина, Э.В.Суворов Кристалллография 1971, 16, 1, 190-196 ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК [110] [112] Стереотопограммы кристалла кремния, снятые по методике Бормана Кристалл имеет форму прямоугольной призмы, трансмиссионные топограммы получены с двух его граней под прямым углом. Топограммы позволяют получить полную реконструкцию объема образца (из работы В.И.Никитенко, Л.Н. Данильчука). Л.Н.Данильчук, В.И.Никитенко. ФТТ, 9, 7, 2027-2034, 1967 Рентгеновская топограмма монокристалла кремния имеющего клиновидную форму V.L.Indendom V.M.Kaganer, W.Mohling, E.V.Suvorov Phys. Stat. Sol.(a) 1984,83, 195-205 ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК Рентгеновская топограмма фрагмента электронной микросхемы ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК Четыре рентгеновских топограммы полученные в пучке синхротронного излучения МЕХАНИЗМЫ ОБРАЗОВАНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ДИФРАКЦИОННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ Что такое рентгеновская секционная топография? K2 K 1 R0 RH Сканирование Метод Ланга. Остановим сканирование получим стопкадр, это и будет секционная топограмма Что такое рентгеновская секционная топография? z x t = 0.42 y t = 0.75 t = 1.4 Отражающие плоскости Численное моделирование волнового поля в треугольнике рассеяния (палатке Бормана) Фрагменты экспериментальных секционных топограмм совершенных монокристаллов Si с разной толщиной (t = 0.42, 0.75, 1.4 mm). На тотограммах четко видны интерференционные полосы E.V.Suvorov,V.I.Polovinkina, V.I.Nikitenko, V.L.Indenbom, Phys.Stat.Sol. 26,1,385-395,1974 СХЕМА ПОЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ СЕКЦИОННОЙ ТОПОГРАММЫ Колимированный рентгеновский пучек Кристалл Треугольник рассеяния Детектор 0 i KC H H s0 0 i KC H 0 i 2 K H H sH 1 H (HU) K sH 1 U ( x, y , z ) 4 1 2 1 τ b ρ b 1 τ b ln 1 2 Здесь - телесный угол под которым из точки R(x,y,z) видна положительная сторона полуплоскости, границей которой является дислокация; - единичный вектор, определяющий ориентацию дислокации; b – вектор Бюргерса; - коэффициент Пуассона. The X-Ray Images of the Long-Range Elastic Stress Field of the Section Tomograms. Dependence of the Number of the New Appeared Extinction Contours on the Diffraction Power of the Dislocations. D V.L.Indenbom, V.I.Nikitenko, E.V.Suvorov, V.M.Kaganer. Phys.Stat.Sol. (a)46, 1, 379-386, 1978 D’ Рентгеновская секционная топограмма дислокации параллельной вектору дифракции и соответствующая поверхность дополнительной разности фаз блоховских волн, приобретаемой волнами в упругом поле дислокации В.Л.Инденбом, В.И.Никитенко, Э.В.Суворов, В.М.Каганер Phys.Stat.Sol. (a)46, 1, 1978, p.379-386 Вид функции локальных угловых разориентаций (x,y) для винтовой дислокации Волновое поле рассчитанное внутри треугольника рассеяния возникающее под дислокационной линией Рентгеновское дифракционное изображение краевой дислокации в тонком и толстом кристаллах t 1 t 1 Вид функции локальных угловых разориентаций (x,y) для краевой дислокации Линейная шкала почернения представлена в угловых секундах. Размеры изображения 100*100 мкм2. H 1 2 U x ( HU ) K s H d x Рентгеновское волновое поле в ограниченном кристалле ШулаковЕ.В., Смирнова И.А., Суворов Э.В. Поверхность 1996, 7, 32-43 ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК Некоторые выводы геометрической оптики d 2 dz dx / dz 1 d x / dz 2 2 2 1 K 2 2 2 z x H u (r ) dp F (r ) dz 1 1 2 2 F r r 2 2 4 z x 2 z x 1 2 Нормальная волна Аномальная волна 1,2 K H u (r ) 1 C hi cos cos 0i N.Kato J. Physical Soc.Jap.1963, 18,N12, 1785-1791; 1964, 19, N1, 67-77; 1964, 19, N6, 971-985 K.Kambe Z.Naturforsh., a20, 770, 1965 В.Л.Инденбом,Ф.Н.Чуховский Кристаллография 16, 6, 1101-1109 1971 В.Л.Инденбом,Ф.Н.Чуховский УФН 1972, 107, 2, 229-265 1 Нормальная волна 2 Аномальная волна KH 1,2 1 C hi cos cos 0i KH + _ Рентгеновское дифракционное изображение краевой дислокации в тонком и толстом кристаллах t 1 t 1 Рентгеновские топограммы монокристалла кремния с прямолинейными дислокациями, введенными при пластическом изгибе. Кристалл имеет клиновидную форму, поэтому на концах дислокаций, выходящих на поверхность, наблюдаются биения. Излучение CuKa, отражение (220), толщина кристалла в толстой его части 3 мм. В.Л.Инденбом, В.М.Каганер, ЭВ.Суворов В.Мелинг Phys.Stat.Sol. (a)83, 1, 1984, p.195-205 Численное моделирование волнового поля в кристалле в плоскости рассеяния Экспериментальные примеры тонкой структуры «прямого изображения» дислокаций в секционной топографии II I 3718 м