(3 шт.): Процессоры

ДИЗАЙН-ЦЕНТР ПРОЕКТИРОВАНИЯ И
ИСПЫТАНИЙ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
Состояние и перспективы разработки радиационно-стойкой элементной
базы во ФГУП «НИИЭТ»
ФГУП «НИИЭТ»
г. Воронеж
СТРУКТУРНАЯ СХЕМА АППАРАТНОЙ ПЛАТФОРМЫ САПР
ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЙ ЦЕНТР
КОММУТАЦИОННЫЙ УЗЕЛ
ИНТЕРНЕТ
1Gb/s
2Mb/s
1Gb/s
Mainframes
1Gb/s
Servers
КОНТРОЛЬНО-АНАЛИТИЧЕСКОЕ
ОБОРУДОВАНИЕ
РАБОЧИЕ СТАНЦИИ И ТЕРМИНАЛЫ
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
Workstation
КРАТКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ОСНОВНОГО СЕРВЕРНОГО ОБОРУДОВАНИЯ,
ПРИОБРЕТЁННОГО В РАМКАХ ИНВЕСТИЦИОННОГО ПРОЕКТА
Сервер HP ProLiant DL580G5 (3 шт.):
Процессоры:
4 х Xeon X7350 Quad Core 2,93GHz (всего 16 ядер)
Оперативная память: 32GB FBD PC2-5300
Дисковая память: 4 x 146GB SAS RAID5
Sun Fire V490 :
Процессоры:
4 x 1.8 GHz UltraSPARC IV+ with 32 MB cache (всего 8 ядер)
Оперативная память: 64GB FBD
Дисковая память: 2 x 146GB 15000 RPM FibreCannel
Устройство хранения данных HP EVA4400
Дисковое пространство: динамическое до 4,7 Терабайта
Дисковый интерфейс: Fibre Channel (ОПТИКА)
Организация массива: 24 диска х 300GB FC 15000 rpm,
собранные в RAID5 с резервированием
РАБОЧИЕ СТАНЦИИ И ТЕРМИНАЛЫ
Дизайн-центр располагает 60 рабочими станциями и терминалами,
образующими соответствующее число рабочих мест разработчиков.
В т.ч., в рамках инвестиционного проекта, приобретено 13 рабочих станций
HP xw8600SAS Workstation Linux.
Основные параметры HP xw8600SAS Workstation Linux:
• процессоры 2 x Xeon 5450 Quad Core 3GHz (всего 8 ядер)
• оперативная память 8GB DDR2-667 ECC
• дисковая память 3 x 146GB SAS 3Gb/s 15000 RPM
• мониторы 2 x 22-дюймовых LCD (L2245w)
• операционная система Red Hat Linux WS
Рабочее место на базе HP xw8600SAS Workstation Linux
КОНТРОЛЬНО-АНАЛИТИЧЕСКОЕ
ОБОРУДОВАНИЕ
СИСТЕМА ЛОГИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ИС ф. AGILENT
• Базовый блок - 16902A
• Модули расширения - 16950А, 16910А
• Число каналов - 170
• Виды сигналов - несимметричные и дифференциальные
• Макс. частота тактового сигнала - 600 МГц
• Макс. частота передачи данных - 450 Мбит/с
• Функция Timing Zoom - 4 ГГц (250 пс)
• Макс. глубина памяти - 64 млн. векторов
• Программное обеспечение - Logic Analysis Software (Agilent)
СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ И АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОВ
Оптические системы с цифровой
микрофотосъёмкой на базе оптических
микроскопов Nikon L150 и L200A
Основные параметры:
• оптическое увеличение – до 1500х
• полное увеличение – до 3000х
• моторизованный столик Prior H116/2 с системой
лазерной фокусировки
• точность позиционирования
автоматизированного столика -  1 мкм
• разрешение цифровой камеры – 12 Мпикс.
РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JEOL JSM-6610A
Основные параметры:
• максимальное разрешение – 3,0 нм
• увеличение – от 5х до 300 000х
• ускоряющее напряжение – от 0,3 до 30 кВ
• функции энергодисперсионного спектрометра:
качественный и количественный анализ
состава, анализ в точке, по заданной области,
вдоль линии
• энергетическое разрешение спектрометра –
138 эВ
• перемещение столика: X=125мм, Y=100мм,
Z=от 5 до 80 мм, угол наклона
T= -10 до 90º, вращение R=360 º
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ САПР ИС
ФГУП «НИИЭТ» обладает лицензиями на следующее
программное обеспечение САПР ИС:
Программное обеспечение ф. Synopsys:
• Средства логического синтеза Design Compiler Expert (DC Expert)
• Средства физического проектирования (размещение, трассировка и оптимизация
топологии) Astro
• Средства временного статического анализа PrimeTime
• Средства управления энергопотреблением ИС Power Compiler
• Средства автоматизации фабричных тестов контроля годности ИС DFT Compiler
• Библиотека IP блоков DesignWare Library
- программные продукты приобретённые в рамках инвестиционного проекта
Программное обеспечение ф. Cadence Design Systems:
• Платформа функциональной верификации Incisive Unified Simulator
• Платформа заказного проектирования и физической верификации Custom IC Design
• Платформа логического синтеза и физического проектирования SoC Encounter
• Средства смешанного моделирования Virtuoso Multi-mode Simulation
В рамках инвестиционного проекта приобретены дополнительные лицензии
на следующие программные инструменты из указанных выше платформ:
Incisive Design Team Simulator
Virtuoso(R) Schematic Editor XL
Virtuoso(R) Analog Design Environment XL
Virtuoso Spectre Simulator – XL
Virtuoso(R) Layout Suite XL
Assura(TM) Parasitic Extractor
Assura(TM) Design Rule Checker
Assura(TM) Layout Vs. Schematic Verifier
SOC Encounter - XL
входят в Custom IC Design
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ВОЗМОЖНОСТИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ
 Степень интеграции разрабатываемых ИС – не ниже уровня, достигнутого
ведущими мировыми дизайн-центрами
 Проектные нормы – до 0,13 мкм
 Типы разрабатываемых ИС – цифровые, аналоговые, смешанные, RF-схемы
 Производительность дизайн-центра – проектирование ИС с суммарной степенью
интеграции до 50 млн. эквивалентных вентилей в год
СБОРОЧНОЕ
ПРОИЗВОДСТВО
ЦЕНТР ИЗМЕРЕНИЙ
И ИСПЫТАНИЙ
Испытательная лаборатория
аккредитована
ФГУ «22 ЦНИИ МО России»
на право проведения испытаний
отечественной и импортной
элементной базы
Средства автоматизированного контроля БИС на пластине и в корпусе
Измир
- 10 МГц
- 48 выводов
- 6 источников измерителя
- память 8192 бит на вывод
- статический и функциональный
контроль
ЭМ-6010
UltraFlex
- 500 МГц
- 128 выводов
- статический и функциональный
контроль
МЗУ
Ирбис
- 100 МГц
- 512 выводов
- статический и функциональный
контроль
ЭМ-6520
Иния
- диаметр пластины –150 мм
- количество зондов – не ограничено
- автоматический обход пластины
по датчику края
- маркирование бракованных
кристаллов – автоматическое
- счетчики годных кристаллов
- диаметр пластины – 125÷200 мм;
- количество зондов – не ограничено;
- автоматический обход пластины;
- маркирование бракованных кристаллов – автоматическое;
- составление карты годности;
- набор статистики;
- автоматическая или ручная загрузка/выгрузка пластин;
- возможность задания программы обхода пластины;
- автоматическая/ручная настройка установки.
- диаметр пластины –200 мм
- количество зондов – не ограничено
- автоматический обход пластины по
датчику края
- маркирование бракованных
кристаллов – автоматическое
- составление карты годности
- возможность задания программы
обхода пластины
–
Измерительный зал №1
Система измерительная
UltraFlex
Измерительный зал №2
Карта годности пластины ИС 1830ВЕ32У полученной на
зондовой установке «ИНИЯ»
Измерительный зал №1
Виды испытаний ИЭТ и испытательное оборудование ФГУП НИИЭТ
Испытания на
воздействие
механических
факторов
Установка вибрационная
электродинамическая
УВЭ-1-004
Максимальное ускорение
– 750 м/с2
Максимальное
перемещение – 6мм
Диапазон частот –
105000 Гц
Испытания на
климатические
воздействия
Испытания на
электрические
воздействия
Камера тепла и
влаги
12КТВ-0,4-0,12
Стенд для
испытаний на
разряд
статического
электричества
СИСЭ-15,0
Выходное напряжение:
от 200 до 15000 В
Диапазон температур
от +40 до +155°С
Влажность: 4595% в
диапазоне от +40 до
+90ОС
Установка
пониженного
давления БК-01
Стенд линейного
ускорения
12МЦ-30000-002
Линейные нагрузки при
ускорениях от 49000 до
294000 м/c2 (от 5000 до
30000g)
Камеры тепла и
холода
КХТ-22
Термоциклы
(-60 – 150) °С
Камеры тепла и
холода Т-2820 и
ТРО4310А
1. – 80 … +225 °С
2. Охлаждение с
применением
внутреннего хладагента
3. Рабочий объём ø150
мм
Конструктивные
испытания
Камера термоударов
КТУ-01
Диапазон
воспроизводимых
температур:
– 196 … +200°С
Приспособления
для испытаний
выводов на
растяжение, изгиб и
сдвиг кристалла
Испытания на
долговечность,
безотказность и
сохраняемость
Стенд термоэлектротренировки
ИМП-5400-002
«Иоланта»
Диапазон температур:
(+ 70 … +130)°С
Вых. напряжение:
(3 … 45) В
Объём загрузки:
30 плат по 15–60 БИС на
плате
Стенд термоэлектротренировки
ИМЭ-600-023
Диапазон температур :
(+ 70 … +130)°С
Вых. напряжение:
(3 … 18) В
Объём загрузки:
15 плат по 15–60 БИС на
плате
ИМП-5400-002
ИМП-5400-002
КТУ-01
БК-01
Испытательный зал №1
КХТВ-80
КТХ-04
Испытательный зал №2
Участок
механических
испытаний
ПОДГОТОВКА КАДРОВ
Совместно с ГОУ ВПО «Воронежская государственная лесотехническая академия»
образован центр подготовки специалистов, обучающихся по программам:
-«Информационные системы. Специализация: микроэлектронные устройства»
- дополнительного
образования
(переквалификация)
«Разработчик
профессионально-ориентированных технологий. Специализация: проектирование
радиотехнических устройств».
Испытания на ТЗЧ
Объектом испытаний являются БИС 16-разрядные микроконтроллеры 1874ВЕ05Т с
тактовой частотой 20 МГц, ОЗУ 488×8 и адресуемой памятью 64К×8, разработанные
ФГУП «НИИЭТ» в рамках ОКР «Трикута-2Р» и изготовленные по КМОП КНИ
технологии и технологии «объемный кремний».
Микросхемы выполнены в металлокерамическом планарном корпусе с
четырехсторонним расположением выводов 4235.88-1.
Количество испытываемых микросхем – 6 шт.
Испытания проводятся в ФГУП «НИИП» г. Лыткарино в 4 квартале 2008 г. с
использованием установки «Калифорний-252» на основе изотопного источника 252Cf.
Схема включения микроконтроллера при испытаниях на ТЗЧ и
структура автоматизированного испытательного комплекса
В состав автоматизированного испытательного комплекса входят: источник излучения – 252Cf; устройство
дозиметрического сопровождения испытаний (УДС) – модули детектора тяжёлых частиц и средства установки;
испытываемая микросхема, размещённая в контактирующее устройство; сопрягаемый с персональным
компьютером блок функционального контроля (БФК) для проверки работоспособности БИС в процессе испытаний,
который реализует различные режимы тестирования ОЗУ, (с программным обеспечением, разработан ФГУП
«НИИЭТ»); блок источников питания (БИП) для задания напряжения питания испытываемых образцов, для питания
детекторов излучения и блока согласования и коммутации; персональный компьютер (ПЭВМ) для управления
работой автоматизированного испытательного комплекса и измерения выходной реакции БИС; средства
позиционирования БИС в поле излучения.
Результаты испытаний микроконтроллера 1874ВЕ05Т
на ТЗЧ
Технология «объемный кремний»
- сечение сбоев не более 1,2∙10-4 см2
- сечение одиночных сбоев в ОЗУ не более 4,1∙10-8 см2/бит
- зафиксирован тирристорный эффект при энергии не более 10 МЭВ см3/г
Технология «кремний на изоляторе»
- сечение одиночных сбоев не более 2,8∙10-5 см2
- сечение одиночных сбоев в ОЗУ не более 7,7∙10-9 см2/бит
- тирристорный эффект не зарегистрирован
• Спасибо за внимание!