16.00 Современный Рентгеновский анализ в геологии Bruker

Современный рентгеновский
анализ в геологии
2012
1
Who is Bruker?
Bruker Physik AG:
Основана в 1960
Целью компании было разработка,
в Карлсруе (Германия)
производство и продажи научного и
профессором Гюнтером
аналитического оборудования
Лаукеном
2
Bruker
Наши офисы и представительства
Головные офисы компании
Сервисные центы
Сервисно-методическая поддержка, продажи
Компания Bruker
Bruker BioSpin
4
Bruker Optics
Bruker Daltonics
Bruker AXS
Bruker AXS
Рентгеновская спектрометрия и дифрактометрия
Оптико-эмиссионная спектрометрия
CS/ONH – анализ
Атомно-силовая микроскопия
Профилометрия и оптическая метрология
Трибология
Рентгенофлуоресцентный анализ
 все материалы: жидкости, металлы,
порошки, газы (на фильтрах)
 все элементы: от Be(4) до U(92)
 широкий диапазон концентрации: от миллионных долей (ppm) до 100 %
 высокая точность до 0.1 % отн.
 экспрессность: время анализа до 1 мин
 минимальная пробоподготовка
 минимальная трудоемкость
 анализ без использования стандартных образцов
6
Определение элементного состава
геологических проб
Элементный анализ
Волно-дисперсионный
WDX
Последовательный
Sequential — S8 Tiger
7
Параллельный
Simultaneously — S8 Lion
S8 Dragon
Энерго-дисперсионный
ЕDX
Ручные - S1
Настольные S2
M1-M4
Элементный анализ
Рентгенофлуоресцентные
спектрометры
S8 TIGER(((
S2 PICOFOX
TXRF
8
S8 LION
TRACERturbo-SD
Ручной РФА
S2 RANGER
QUANTAX
РФА на микроскопе
S2 RANGER
Энергодисперcионный спектрометр

Компактный и простой в управлении прибор
– анализ одним касанием

Большой магазин с возможностью загрузки
проб различных типов в любой момент

С автоматической
загрузкой
Уникальные характеристики безазотного
SDD детектора XFlash® – <124 эВ при
скорости счета 100000 имп/сек
 Анализ без необходимости
использования стандартов при
помощи программы EQUA ALL
С ручной загрузкой
9
S2 PICOFOX
TXRF спектрометр
Настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр с
полным внешним отражением
10
(((
S8 TIGER волнодисперсионный
спектрометр последовательного типа





11
Рентгеновская трубка с торцевым
окном 1, 3 и 4кВт
Наилучшая чувствительность по
легким элементам благодаря 175мА
Улучшенная система защиты
спектрометрической камеры и трубки
от загрязнений
Высокая скорость движущихся
механизмов
Встроенный сенсорный экран
управления.

Малые размеры (менее 1 м2)

Автоматический сменщик масок
S8 TIGER: высокая аналитическая
гибкость, чувствительность и
разрешение
проба
коллиматорная маска
вакуум-затвор
до 10 фильтров
первичного пучка
75m
возбуждение:
4kW (до 60kV
или 150mA)
Rh
проточный
счетчик
Сцинтилляционный
детектор
до 4
коллиматоров
до 8
кристаллованализаторов
S8 LION S8 DRAGON
спектрометры многоканального
типа



До 16 анализируемых каналов
Наилучшая чувствительность по
легким элементам благодаря 170мА

Высокая скорость анализа

Диффракционный канал — S8 LION

EDX канал — S8 DRAGON

13
Рентгеновская трубка с торцевым 3 и
4кВт
Встроенный сенсорный экран
управления.

Малые размеры (менее 1 м2)

Автоматический сменщик масок
S8 LION
схема измерительной камеры
S8 LION
Термо-статированные кристаллы под
каждую группу элементов
Пропорциональный счётчик для лёгких элементов
Сцинтилляционный – для тяжёлых
Быстрая и точная пробоподача
с системой SampleCare
& Easy Load
Дифракционный канал
для определения
свободной извести
S8 DRAGON
Встроенный энергодисперсионный канал
позволяет видеть всю таблицу менделеева,
помимо 15 выбранных элементов.
Элементный анализ в электронной
микроскопии QUANTAX
 QUANTAX - EDS с
детекторами Xflash и Si(Li)
 Картирование с
количественным анализом
17
M1 MISTRAL – микроанализ
массивных проб и слоёв
- анализ от Ti до U
- размер объекта 100×100 мм
- видео-микроскоп
- лазерная указка для выбора области
- дискретность исследуемой области от
100 мкм
- моторизованный столик
- точность 0.2 % масс. На драгоценных
металлах
M4 TORNADO – микроанализ,
картирование, спектр в каждой
точке образца
- анализ от Na до U
- дискретность анализа 20 мкм
- анализ многослойных систем
- качественный и количественный
анализ
- встроенный вакуумный насос,
безмасляная откачка
- встроенные системы
термостатирования и охлаждения трубки
- до двух трубок с различными анодами
Картирование образца бетона,
Анализируемая площадь : 15×11 мм, размер пятна 37 мкм,
Общее время измерения с усреднением:
5 мин.
23 мин.
Скорость счёта в точке (37 мкм) имп/с:
4
15
80 мин.
30
Управление приборами, измерение,
обработка и передача данных:
SPECTRAplus
 количественный и полуколичественный
анализ
 простое, удобное и безопасное управление
приборами
 обработка результатов во время
измерения в реальном многозадачном
режиме
 современная матричная коррекция и
анализ без использования стандартных
образцов
 гибкое и удобное для пользователя
представление результатов анализа (Word,
Excel, PowerPoint,…)
 интегрированная база данных для любых
параметров интересуемой пробы
 быстрая и надежная передача всех данных
по локальной сети
21
SPECTRAplus
Оптимизация параметров измерения в
режиме on-line
22
Рентгеноструктурный и фазовый
анализ
более 15 моделей дифрактометров !!!
D8 ADVANCE
23
D4 ENDEAVOR
D2 PHASER
D8 ADVANCE:
широкие возможности и гибкость





24
качественный фазовый анализ с
программой DIFFRACplus SEARCH
количественный фазовый анализ с
программами DQUANT или TOPAS
изучение фазовых превращений при
изменении температуры и других
внешних условий
рефлектометрия при помощи
программы LEPTOS
анализ текстуры и микронапряжений
по программе TexEval и STRESS
D2 PHASER – настольный
порошковый дифрактометр
 настольная система с аналитическими
характеристиками стационарной
 составной гониометр –
высокотехнологичное решение
 уникальный детектор LYNXEYE
 высокоточные направляющие для
позиционирования оборудования
 включил – работай, нет необходимости в
юстировке
 Качественный и количественный анализ
фазового (минерального) состава с
программным обеспечением EVA и
TOPAS
25
Рентгеновский дифракционный
анализ
Качественный фазовый анализ
Количественный фазовый анализ
26
Рентгеновская дифрактометрия –
качественный фазовый анализ с
программой DIFFRACplus SEARCH
27
DIFFRACplus TOPAS
Аппроксимация пика
 Размер кристаллитов
 Микронапряжения
 ...
Определение структуры
Уточнение структуры по Rietveld
28
Анализ дифрактограммы
(Pawley, LeBail)
 Параметры ячейки
 ...
Количественный фазовый анализ по Rietveld
Сертификаты ГОССТАНДАРТА РФ
Все приборы внесены
в Госреестр средств
измерений,
допущенных
к применению
в Российской
Федерации
29
ООО Брукер
Благодарим за внимание!
www.bruker.ru
www.bruker-axs.com
30