edu_prоgr_Б3.В - Физика твердого тела и неравновесных систем

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение
высшего профессионального образования
«САМАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»
Факультет _______физический___________
(наименование)
Кафедра ______ФТТ и НС__________
(наименование)
УТВЕРЖДАЮ
Проректор по учебной работе
________________В.П. Гарькин
«____»_______________ 2011 г.
РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ
Дифракционный структурный анализ конденсированных сред
образовательная программа направления 011200 Физика
цикл Б3.В.7, «Профессиональный цикл», Вариативная часть
Профиль подготовки
Физика конденсированного состояния вещества
Квалификация (степень) выпускника
Бакалавр физики
Форма обучения
очная
Курс 4 семестр 7
Самара
2011
1
Рабочая программа составлена на основании федерального государственного
образовательного стандарта высшего профессионального образования направления
(специальности) 011200 ФИЗИКА, утвержденного приказом Министерства образования и
науки Российской Федерации № 711 от 8 декабря 2009 г. Зарегистрировано в Минюсте России
8 февраля 2010 г. № 16295
Составители рабочей программы:
Журавель Л.В., доцент кафедры ФТТ и НС, к.т.н.
Рецензент:
Покоев А.В., зав. кафедрой физики твердого тела и неравновесных систем Самарского
государственного университета, д.ф.-м.н., профессор
Рабочая программа утверждена на заседании кафедры ФТТиНС
(протокол № от «____» _____________ 2011 г.)
Заведующий кафедрой
____ _____________ 2011 г. _______________ А.В. Покоев
СОГЛАСОВАНО
Председатель
методической
комиссии факультета
____ _____________ 2011 г. _______________ И.С. Цирова
СОГЛАСОВАНО
Декан
факультета
____ _____________ 2011 г. _______________ В.В. Ивахник
СОГЛАСОВАНО
Начальник
методического отдела
____ _____________ 2011 г.
_______________
Н.В. Соловова
2
1.
Цели и задачи дисциплины, ее место в учебном процессе, требования к уровню
освоения содержания дисциплины
1.1. Цели и задачи изучения дисциплины
Дисциплина «Дифракционный структурный анализ конденсированных сред»
знакомит студентов с основами взаимодействия и дифракции рентгеновских лучей, электронов,
нейтронов в конденсированных средах различного строения и состава. Эти методы,
характеризующиеся широким диапазоном вариантов, применяют для определения типа
структуры, качественного и количественного фазового анализа, плотности и строения дефектов
кристаллического и аморфного строения. На основании предыдущих лекционных курсов
«Симметрия и структура конденсированных сред» и «Физическое материаловедение
конденсированных сред» и изучения настоящего курса лекций студент сможет спланировать и
провести исследования структурного состояния твердых тел и делать определенные
заключения об их структуре и свойствах.
1.2. Компетенции обучающегося, формируемые в результате освоения дисциплины
(модуля)
В результате освоения учебной дисциплины обучающийся должен
знать:
- устройство и принципы работы источников ионизирующих излучений для
дифракционного анализа;
- основные принципы дифракции ионизирующих излучений в кристаллах и применения
рентгеновских лучей для исследования материалов;
- основные методы дифракционного анализа для исследования конденсированных сред;
уметь:
- самостоятельно проводить интерпретацию, индицирование и расшифровку
рентгенограмм;
- изучать и структуры материалов с применением методов дифракционного анализа;
быть способным:
анализировать структурное состояние твердых тел и решать вопросы по
изменению их свойств в требуемом направлении;
владеть:
- навыками интерпретации и расшифровки дифрактограмм, электронограмм и
рентгенограмм;
- представлениями об перспективах развития дифракционных методов анализа
конденсированных сред;
навыками вести целенаправленный поиск литературы по заданным направлениям
физики конденсированного состояния по реферативным журналам, электронным
библиотекам и другим Internet-источникам;
быть готовым:
к углублению знаний в области физики конденсированного состояния вещества и
методов его исследования;
3
владеть компетенциями:
Код
компетен
ции
ОК-4
ОК-21
ПК-1
ПК-2
ПК-3
ПК-4
ПК-5
ПК-6
ПК-7
ПК-8
ПК-10
ПК-11
ПК-12
ПК-13
ПК-14
ПК-15
Наименование результата обучения
Способностью собирать, обрабатывать и интерпретировать с использованием
современных информационных технологий данные необходимые для формирования
суждений по соответствующим социальным научным и этическим проблемам
Способностью понимать сущность и значение информации в развитии современного
информационного общества. Сознавать опасности и угрозы, возникающие в этом
процессе, соблюдать основные требования информационной безопасности, в том
числе защиты государственной тайны
Способностью использовать базовые теоретические знания для решения
профессиональных задач
Способностью применять на практике базовые профессиональные навыки
Способностью эксплуатировать современную физическую
аппаратуру и
оборудование
Способностью использовать специализированные знания в области физики для
освоения профильных физических дисциплин (в соответствии с профилем
подготовки)
Способностью применять на практике базовые профессиональные знания теории и
методов физических исследований (в соответствии с профилем подготовки)
Способностью пользоваться современными методами обработки, анализа и синтеза
физической информации (в соответствии с профилем подготовки)
Способностью формировать суждения о значении и последствиях своей
профессиональной деятельности с учетом социальных, правовых, этических и
природоохранных аспектов
Способностью понимать и использовать на практике теоретические основы
организации и планирования физических исследований
Способностью понимать и излагать получаемую информацию и представлять
результаты физических исследований
Способностью понимать общую структуру дисциплин профиля и взаимодействие
между ними
Способностью понимать профессиональные задачи в области научноисследовательской деятельности в соответствии с полученным профессиональным
профилем
Способностью практически использовать знания, полученные при изучении
профильных дисциплин
Способностью формулировать задачи прикладных исследований в избранной области
физики
Способностью демонстрировать понимание качества исследований, относящихся к
избранной области физики
1.3. Место дисциплины в структуре ООП
Изучение дисциплины «Дифракционный структурный анализ конденсированных
сред» основывается на знаниях, полученных слушателями при изучении курсов «Общая
физика», «Квантовая механика», «Введение в физику конденсированного состояния»,
«Электронные свойства твердых тел», «Симметрия и структура конденсированных сред».
Понятия и усвоенные закономерности, приобретенные навыки и умения, способности
сформированные в курсе «Дифракционный структурный анализ конденсированных сред» будут
использованы в обязательных курсах «Рентгенография конденсированных сред», «Физика и
4
структура реальных конденсированных сред», «Электронная микроскопия конденсированных
сред», «Диффузионные процессы в конденсированных средах» и при выполнении выпускной
работы.
2. Содержание дисциплины
2.1. Объем дисциплины и виды учебной работы
Семестр -7, вид отчетности – зачет.
Вид учебной работы
Трудоемкость изучения дисциплины
Обязательная аудиторная учебная нагрузка (всего)
Объем часов/ зачетных
единиц
72 / 2
36 / 1
в том числе:
лекции
18
лабораторные занятия
18
Самостоятельная работа студента (всего)
32
в том числе:
Самостоятельное изучение тем
18
Подготовка реферата
5
Подготовка к лабораторным занятиям
9
КСР
4
5
2.2. 2.2. Тематический план учебной дисциплины
Наименование
разделов и тем
Содержание учебного материала,
лабораторные работы и практические
занятия, самостоятельная работа
обучающихся, курсовая работа (проект)
2
1
Раздел 1. Дифракционные
методы структурного
анализа конденсированных
сред.
Тема 1.1.
Лекции
Предмет дифракционного 1 Предмет и задачи лекционного курса
анализа
2 Возникновение и развитие
дифракционных методов изучения
материалов с помощью проникающего
излучения: электроны, нейтроны,
рентгеновские лучи.
Тема 1.2.
Лекции
Рентгенотехника.
1 Рентгеновские трубки. Устройство и
принцип действия электронной
запаянной рентгеновской трубки.
2 Оптические свойства рентгеновской
трубки.
3 Типы рентгеновских трубок и их
условные обозначения.
4 Кенотрон. Работа кенотрона при
последовательном его соединении с
трубкой.
5 Рентгеновские аппараты для
дифракционных исследований.
Лабораторные занятия
1 Рентгенотехника.
Объем
часов/
зачетных
единиц
3
14
1
Образовательные
технологии
4
Проблемная
лекция
1
Формируемые
компетенции/
уровень
освоения*
5
Формы
текущего
контроля
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Устный опрос
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Устный опрос
ПК-1/2
ПК-3/1
ПК-4/2
ПК-5/1
ПК-13/2
Устное
собеседование
6
Проблемная
лекция
6
Экспериментальная
работа по заданному
алгоритму
6
Тема 1.3.
Физика рентгеновских
лучей.
Раздел 2.
Взаимодействие
рентгеновских лучей с
веществом.
Тема 2.1.
Рассеяние рентгеновского
излучения в
конденсированной среде.
Самостоятельная работа студента
1 Подготовка к лабораторным занятиям
3
Лекции
1 Основные свойства рентгеновских
лучей, их преломление и дифракция.
2 Сплошной спектр рентгеновских
лучей. Закономерности сплошного
спектра.
3 Линейчатый спектр рентгеновских
лучей. Закономерности линейчатого
спектра и их объяснение.
4 Области применения рентгеновских
характеристических лучей.
Самостоятельная работа студента
1 Самостоятельное изучение тем:
Практическое использование
рентгеновских лучей для изучения
вещества
1
Проблемная
лекция
2
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Собеседование
по теме
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
Собеседование
по теме
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Устный опрос
Устный опрос
7
Лекции
1 Поглощение и рассеяние
рентгеновских лучей. Рассеяние
рентгеновских лучей электроном.
Рассеяние рентгеновских лучей
атомом. Оже - электроны.
2 Флуоресценция. Свойства вторичных
характеристических лучей.
3 Классическое и квантовое рассеяние,
когерентное и некогерентное
рассеяние. Поляризационный фактор.
1
Проблемная
лекция
7
Самостоятельная работа студента
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
2
1 Самостоятельное изучение тем:
Явления, сопровождающие
прохождение рентгеновских лучей
сквозь конденсированные среды.
Тема 2.2.
Поглощение
рентгеновского излучения
в конденсированной среде.
Раздел 3.
Дифракция рентгеновских
лучей на кристаллической
структуре.
Тема 3.1.
Лекции
1 Поглощение рентгеновских лучей.
Фотоэлектронное поглощение.
Основной закон ослабления
интенсивности рентгеновских лучей.
2 Массовые коэффициенты ослабления,
поглощения и рассеяния.
3 Зависимость коэффициентов
ослабления от длины волны излучения
и от атомного номера облучаемого
материала.
4 Скачок в изменении коэффициента
поглощения, принцип изготовления
фильтров для характеристических
лучей. К-серии.
5 Методы монохроматизации рентгеновского излучения. Рентгеновская
спектрометрия.
Самостоятельная работа студента
1 Самостоятельное изучение тем:
Ионизация конденсированной среды
под действием рентгеновских лучей.
2
Проблемная лекция
2
Собеседование
по теме
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Устный опрос
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
Собеседование
по теме
ПК-1/1
Устный опрос
27
Лекции
2
Проблемная лекция
8
Дифракционная картина и
ее интерпретация.
Тема 3.2.
Интенсивность рассеяния
регулярными
совокупностями атомов.
1 Определения. Уравнение Лауэ.
Уравнение Вульфа-Бреггов и его
интерпретация. Связь уравнений Лауэ
и Вульфа-Бреггов.
2 Прямая и обратная решётки. Основные
свойства обратной решётки.
3 Интерпретация дифракционной
картины с помощью сферы Эвальда.
4 Понятие о динамической теории
дифракции рентгеновских лучей.
Самостоятельная работа студента
1 Самостоятельное изучение тем:
Атомно-кристаллическая и обратная
решетки кристалла. Межплоскостные
расстояния.
Кристалл как дифракционная решетка.
Основные уравнения дифракции
рентгеновских лучей.
Лекции
1 Интенсивность интерференционных
максимумов и факторы её
определяющие.
2 Рассеяние рентгеновских лучей атомом
и кристаллом. Структурная амплитуда.
Структурный фактор.
3 Формулы интенсивности для типичных
случаев. Интенсивность отражения для
идеального кристалла.
4 Структурный фактор для примитивной
решётки, ОЦК- и ГЦК-решеток.
Структурный фактор для ОЦКрешётки в случае неидентичных
атомов. Структурный множитель для
ГПУ-решетки.
Лабораторные занятия
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
Собеседование
по теме
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Устный опрос
ПК-1/2
Устное
2
4
6
Проблемная
лекция
Экспериментальная
9
1 Фазовый рентгеноструктурный анализ
конденсированных сред.
Дифрактометрический фазовый анализ
Тема 3.3.
Интенсивность рассеяния
искаженными
кристаллами.
Самостоятельная работа студента
1 Самостоятельное изучение тем:
Запрещенные узлы обратной решетки.
Случаи ОЦК и ГЦК-решеток и
структуры типа сфалерита.
Интенсивность дифракционных
отражений.
2 Подготовка к лабораторным занятиям.
Лекции
1 Интенсивность рассеяния
искаженными кристаллами.
Статистические и динамические
искажения решетки и их влияние на
рассеяние рентгеновских лучей.
Тепловой множитель. Фактор
повторяемости. Угловой множитель
интенсивности (фактор Лоренца).
Абсорбционный фактор.
Самостоятельная работа студента
1 Самостоятельное изучение тем:
Рентгеноструктурный анализ
нарушенной кристаллической решетки
Раздел 4.
Методы дифракционных
структурных исследований.
Тема 4.1.
Лекции
Экспериментальные
1 Классификация экспериментальных
методы
методов рентгеновских дифракционрентгеноструктурных
ных исследований.
работа по заданному
алгоритму
ПК-3/1
ПК-4/2
ПК-5/1
ПК-13/2
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
собеседование
Собеседование
по теме
3
3
4
Проблемная
лекция
3
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
ПК-12/1
Устный опрос
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
Собеседование
по теме
15
2
Проблемная
лекция
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-7/1
ПК-11/1
Устный опрос
1
0
исследований.
2 Метод Дебая - Шеррера - Хелла (метод
порошка). Получение порошковых
рентгенограмм. Геометрия метода.
3 Интерпретация дифракционной
картины в терминах обратной решётки.
Форма и ширина рентгеновской
дифракционной линии. Внешний вид
рентгенограмм в зависимости от
состояния кристаллитов.
4 Расшифровка дебаеграмм.
Определение индексов интерференции.
Определение параметра кристаллической решётки.
5 Метод Лауэ. Интерпретация метода
Лауэ в терминах обратной решётки.
6 Индицирование пятен лаузграммы и
эпиграмм. Задачи, решаемые методом
Лауэ. Ориентация монокристаллов.
7 Метод вращения кристаллов.
Аппаратура и геометрия съёмки.
8 Представление метода в терминах
обратной решётки. Индицирование
рентгенограмм вращения. Метод
диффузного фона. Рентгеновская
спектрометрия.
Лабораторные занятия
1 Метод Дебая-Шеррера-Хелла
Самостоятельная работа студента
1 Самостоятельное изучение тем:
Общая характеристика методов
структурного анализа.
Дифрактометрия поли- и
монокристаллов.
ПК-12/1
6
Экспериментальная
работа по заданному
алгоритму
2
ПК-1/2
ПК-3/1
ПК-4/2
ПК-5/1
ПК-13/2
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/1
ПК-10/2
Устное
собеседование
Собеседование
по теме
1
1
2 Подготовка к лабораторным занятиям.
Написание реферата по выбранной
теме из ниже приведенного списка тем
рефератов.
5
КСР
4
Всего:
реферат
ПК-1/1
ПК-4/1
ПК-6/2
ПК-10/2
ПК-12/1
Собеседование
по реферату
72 / 2
* В таблице уровень усвоения учебного материала обозначен цифрами;
1 –репродуктивный (освоение знаний, выполнение деятельности по образцу, инструкции или под руководством);
2 – продуктивный (планирование и самостоятельное выполнение деятельности, решение проблемных задач; применение умений в новых
условиях);
3 – творческий (самостоятельное проектирование экспериментальной деятельности; оценка и самооценка инновационной деятельности).
1
2
2.3. Содержание учебного курса
Раздел 1. Дифракционные методы структурного анализа конденсированных
сред.
Тема 1.1. Предмет дифракционного анализа.
Предмет и задачи лекционного курса. Открытие рентгеновских лучей.
Возникновение и развитие дифракционных методов изучения материалов с помощью
проникающего излучения: электроны, нейтроны, рентгеновские лучи.
Тема 1.2. Рентгенотехника.
Рентгеновские трубки. Устройство и принцип действия электронной запаянной
рентгеновской трубки. Оптические свойства рентгеновской трубки. Типы рентгеновских
трубок и их условные обозначения. Кенотрон. Работа кенотрона при последовательном
его соединении с трубкой. Рентгеновские аппараты для дифракционных исследований.
Тема 1.3.Физика рентгеновских лучей
Основные свойства рентгеновских лучей и их практическое использование для
изучения вещества. Сплошной спектр рентгеновских лучей. Закономерности сплошного
спектра. Линейчатый спектр рентгеновских лучей. Закономерности линейчатого спектра и
их объяснение. Области применения рентгеновских характеристических лучей.
Раздел 2. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом
Тема 2.1. Рассеяние рентгеновского излучения в конденсированной среде.
Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей. Рассеяние рентгеновских лучей
атомом. Рассеяние рентгеновских лучей электроном. Оже-электроны. Свойства вторичных
характеристических лучей. Классическое и квантовое рассеяние, когерентное и
некогерентное рассеяние. Поляризационный фактор.
Тема 2.2. Поглощение рентгеновского излучения в конденсированной среде.
Поглощение рентгеновских лучей. Фотоэлектронное поглощение. Основной закон
ослабления интенсивности рентгеновских лучей. Массовые коэффициенты ослабления,
поглощения и рассеяния. Зависимость коэффициентов ослабления от длины волны
излучения и от атомного номера облучаемого материала. Скачок в изменении
коэффициента поглощения. Принцип изготовления фильтров для характеристических
лучей. К-серии. Методы монохроматизации рентгеновского излучения.
Раздел 3. Дифракция рентгеновских лучей на кристаллической структуре.
Тема 3.1. Дифракционная картина и ее интерпретация.
Определения. Уравнение Лауэ. Уравнение Вульфа-Бреггов и его интерпретация.
Связь уравнений Лауэ и Вульфа-Бреггов.
Прямая и обратная решётки. Основные свойства обратной решётки. Интерпретация
дифракционной картины с помощью сферы Эвальда. Понятие о динамической теории
дифракции рентгеновских лучей
Тема 3.2. Интенсивность рассеяния регулярными совокупностями атомов.
Интенсивность интерференционных максимумов и факторы её определяющие.
Рассеяние рентгеновских лучей атомом и кристаллом. Структурная амплитуда.
Структурный фактор. Формулы интенсивности для типичных случаев.
Интенсивность отражения для идеального кристалла. Структурный фактор для
примитивной решётки, ОЦК- и ГЦК-решеток. Структурный фактор для ОЦК-решётки в
случае неидентичных атомов. Структурный множитель для ГПУ-решетки.
Тема 3.3. Интенсивность рассеяния искаженными кристаллами.
Интенсивность рассеяния искаженными кристаллами. Статистические и
динамические искажения решетки и их влияние на рассеяние рентгеновских лучей.
Тепловой множитель. Фактор повторяемости. Угловой множитель интенсивности (фактор
Лоренца). Абсорбционный фактор.
Раздел 4. Методы дифракционных структурных исследований.
Тема 4.1. Экспериментальные методы рентгеноструктурных исследований.
Классификация экспериментальных методов рентгеновских дифракционных
исследований.
Метод Дебая – Шеррера - Хелла (метод порошка). Получение порошковых
рентгенограмм. Геометрия метода. Интерпретация дифракционной картины в терминах
обратной решётки. Форма и ширина рентгеновской дифракционной линии. Внешний вид
рентгенограмм в зависимости от состояния кристаллитов. Расшифровка дебаеграмм.
Определение индексов интерференции. Определение параметра кристаллической
решётки.
Метод Лауэ. Интерпретация метода Лауэ в терминах обратной решётки.
Индицирование пятен лаузграммы. Задачи, решаемые методом Лауэ. Ориентация
монокристаллов.
Метод вращения кристаллов. Аппаратура и геометрия съёмки. Представление
метода в терминах обратной решётки. Индицирование рентгенограмм вращения. Метод
диффузного фона.
Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновские спектрометры с двойным и тройным
кристаллами.
3.Организация входного, текущего и промежуточного контроля обучения
3.1. Организация контроля:
 Текущий контроль – использование балльно-рейтинговой системы;
 Промежуточная аттестация выставляется на основании балльно-рейтинговой
системы.
3.2. Тематика рефератов
1. Рентгенограммы поликристаллов.
2. Явления, сопровождающие прохождение рентгеновских лучей сквозь
конденсированные среды.
3. Ионизация конденсированной среды под действием рентгеновских лучей.
4. Прецизионные измерения параметров кристаллической решетки и их применение.
5. Дифрактометрия поли- и монокристаллов.
6. Интенсивность дифракционных отражений. Множители интенсивности.
7. Дифрактограммы упорядоченных и неупорядоченных сплавов.
8. Проявление пространственной симметрии кристалла в дифракционной картине
9. Определение межплоскостных расстояний по дебаеграммам и идентификация фаз.
10. Фазовый анализ твердых тел
11. Дифрактометрический анализ материалов.
12. Статистические и динамические искажения кристаллической решетки и их
влияние на рассеяние рентгеновских лучей.
3.3. Курсовая работа
Курсовая работа по курсу не предусмотрена.
3.4. Балльно-рейтинговая система
Максимальная сумма баллов, набираемая студентом по дисциплине
«Дифракционный структурный анализ конденсированных сред», закрываемой
семестровой аттестацией, равна 100.
На основе набранных баллов, успеваемость студентов в семестре определяется
следующими
оценками:
«отлично»,
«хорошо»,
«удовлетворительно»
и
«неудовлетворительно».
- «Отлично» – от 86 до 100 баллов – теоретическое содержание курса освоено
полностью, без пробелов необходимые практические навыки работы с освоенным
материалом сформированы, все предусмотренные программой обучения учебные задания
выполнены, качество их выполнения оценено числом баллов, близким к максимальному.
- «Хорошо» – от 74 до 85 баллов – теоретическое содержание курса освоено
полностью, без пробелов, некоторые практические навыки работы с освоенным
материалом сформированы недостаточно, все предусмотренные программой обучения
учебные задания выполнены, качество выполнения ни одного из них не оценено
минимальным числом баллов, некоторые виды заданий выполнены с ошибками.
- «Удовлетворительно» – от 61 до 73 баллов – теоретическое содержание курса
освоено частично, но пробелы не носят существенного характера, необходимые
практические навыки работы с освоенным материалом в основном сформированы,
большинство предусмотренных программой обучения учебных заданий выполнено,
некоторые из выполненных заданий, возможно, содержат ошибки.
- «Неудовлетворительно» – 60 и менее баллов - теоретическое содержание курса не
освоено, необходимые практические навыки работы не сформированы, выполненные
учебные задания содержат грубые ошибки, дополнительная самостоятельная работа над
материалом курса не приведет к существенному повышению качества выполнения
учебных заданий.
Баллы, характеризующие успеваемость студента по дисциплине, набираются им в
течение всего периода обучения за посещение занятий, изучение отдельных тем,
выполнение домашних заданий и решение задач в аудитории.
Распределение баллов, составляющих основу оценки работы студента по
изучению дисциплины «Дифракционный структурный анализ конденсированных
сред» в течение 18 недель 7 семестра:
1. Посещение занятий (1 балл в неделю)
2. Выполнение заданий по лабораторным
занятиям дисциплины в течение семестра:
3.Выполнение дополнительных практикоориентированных заданий:
домашнее самостоятельное задание по теме
4. Реферат
5. Сдача зачета
Итого:
до 2 баллов  занятий = 18 баллов
до 4 баллов  занятий = 36 баллов
до 3 баллов  тем= 24 баллов
до 22 баллов
до 30 баллов
до 100 + 30 баллов
4. Сведения о материально-техническом обеспечении дисциплины
№п/п
1
2
Наименование оборудованных учебных
кабинетов, лабораторий
Лекционная аудитория
Компьютерный класс
Перечень оборудования и технических
средств обучения
Мультимедийное оборудование
Мультимедийное оборудование
4.1. Технические средства обучения и контроля, использование ЭВМ
Плакаты – 4 шт.
Дифрактограммы – 10 шт.
Рентгенограммы – 12 шт.
Кристаллы, поликристаллы, аморфные материалы и порошки для исследования.
5. Литература
5.1. Основная
1. Рентгенографический и электронно-оптический анализ: Учеб. пособие для вузов /
С.С.Горелик, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС,
2002 .— 358с. — ISBN 5-87623-096-0: 179.10 (6 экз.)
2. Физика твердого тела : учеб. пособие для вузов / В.Л. Матухин, В.Л. Ермаков. –
СПб.: Лань, 2010 .— 218 с.: ил. — (Учебники для вузов. Специальная литература). – ISBN
978-5-8114-0923-5 (20 экз)
3. Уманский Я.С. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная
микроскопия. – М.: МИСИС, 2002 (6 экз.)
4. Физика твердого тела: учеб. пособие для физ. специальностей ун-тов и техн. унтов / А.Г. Гуревич. – СПб.: Невский диалект: БХВ-Петербург, 2004 .— 318 с.: ил. —
Предм. указ.: с. 312-318 .— ISBN 5-7940-0117-8. – ISBN 5-94157-519-X .— ISBN 5-93634013-9 (12 экз.)
5.2. Дополнительная
1. Акимова И.А., Мартынова Г.П. Рентгеноструктурный анализ. Лабораторный
практикум. Ч. 1. Куйбышев: КуГУ, 1986. 56 с. (25 экз.).
2. Акимова И.А. Рентгеноструктурный анализ. Методические разработки для
практических занятий. Куйбышев: КуГУ, 1981. 71 с. (12 экз.).
3. Хараджа Ф.Н. Общий курс рентгенотехники. Госэнергоиздат, 1967.
4. Азаров Л., Бургер М. Метод порошка в рентгенографии. М., 1961.
5. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия: учебное пособие
для вузов / под ред. Уманского Я.С. и др. - М., Металлургия, 1982. (6 экз.)
6. Баррет Ч.С., Моссальский Т.Б. Структура металлов. Ч.I, II: Учебник для вузов. - М.,
1984.
7. Горелик С.С. и др. Рентгенографический и электроннооптический анализ: учебное
пособие для вузов. - М.,2002. (4 экз.)
8. Современная кристаллография Т.1,2. М., 1979. (5 экз.)
9. Келли А., Гровс Г. Кристаллография и дефекты в кристаллах: учебник для вузов. М., Мир, 1974.
10. Попов Г.М., Шафрановский И.И. Кристаллография: учебник для вузов.- М., 1964
11. Уманский
Я.С.
Рентгенография
металлов
и
полупроводников.
М.,
Металлургия,1969. - 8 шт.
12. Русаков А.А. Рентгенография металлов. М., Атомиздат, 1977. - 6 шт
13. Рентгеноструктурный анализ: Справочное руководство: Получение и измерение
рентгенограмм / Л.И. Миркин. — М. : Наука, 1976 .— 326с. (3)
14. Рентгеноструктурный анализ : Индуцирование рентгенограмм: Справ. рук. / Л.И.
Миркин.— М.: Наука, 1981. – 496 с. — Библиогр.: с. 495. (3)
15. Рентгеноструктурный контроль машиностроительных материалов: Справочник /
Л.И. Миркин. — М.: Машиностроение, 1979 .— 134 с.(5)
16. Ошибки измерений физических величин : учебное пособие [для ун-тов и втузов] /
А.Н. Зайдель .— 2-е изд., стер. — СПб. : Лань, 2005 .— 112 с. : ил., табл. — ISBN 5-81140643-6 (75 экз).
5.3. Учебно-методическое и информационное обеспечение дисциплины для
организации самостоятельной работы студентов (содержит перечень основной
литературы, дополнительной литературы, программного обеспечения и Интернетресурсы)
1. Алешина Л.А., Шиврин О.Н. Рентгенография металлов
http://fssp.karelia.ru/ala/BOOK/index.html
2. Электронный учебник «Рентгенография аморфных материалов и природа дефектов
в них»
http://solidbase.karelia.ru/edu/X-rays/Обложка1.htm