ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ СПЕКТРОВ РЕЗОНАНСНОГО ЗАХВАТА ЭЛЕКТРОНОВ МОЛЕКУЛАМИ ПРОИЗВОДНЫХ ФТАЛИДА Туймедов Г.М., Погуляй А.В., Мазунов В.А., Насибуллаев Ш.К. *, Васильев Ю.В. Институт физики молекул и кристаллов УНЦ РАН, Уфа * Башкирский государственный университет, Уфа Масс-спектры резонансного захвата электронов молекул фталида (I), бифенилфталида (II) и тетрафенилфталида (III) были исследованы при различных температурах молекулярного пучка. Ранее [1, 2] было установлено, что образование долгоживущих (время жизни относительно автоотщепления электрона > 1 мкс) молекулярных отрицательных ионов I происходит с преодолением активационного барьера, поскольку интенсивность резонансного пика выхода этих ионов при близкой к нулю энергии электронов возрастает с ростом температуры молекулярного пучка. По зависимости выхода молекулярных отрицательных ионов от обратной температуры в данной работе были определены величины активационного барьера для захвата электронов при близкой к нулю энергии молекулами фталидов, составившие ≈ 0,08 эВ для I, ≈ 0,04 эВ для II и ≈ 0 для III. В [1, 2] было высказано предположение, что механизмом стабилизации молекулярных отрицательных ионов этих молекул является внутрений разрыв С–О связи фталида. В данном исследовании было установлено, что только внутреннего разрыва С-О связи недостаточно для такой стабилизации и необходим последующий поворот СО2-группы из плоскости 5-членного фталидного цикла. Именно такая, более сложная скелетная перегруппировка, согласно нашим расчетам методом АМ1 способствует стабилизациии молекулярного отрицательного иона фталидов относительно автоотщепления электрона. В целях экспериментального подтверждения этого механизма стабилизации молекулярных отрицательных ионов в данной работе были также исследованы спектры диссоциативного захвата электронов молекул I-III. Особое внимание было уделено изучению ионов (M-COOH)–, для образования которых явно требуется разрыв С-О связи. Было установлено, что при низких температурах молекулярного пучка эти осколочные отрицательные ионы образуются в диапазоне энергии электронов 4-9 эВ и имеют сложную структуру кривой эффективного выхода. Однако, при повышении температуры молекулярного пучка от комнатной до 270 oC эти осколочные ионы из соединений II и III также наблюдались в том же энергетическом диапазоне, в котором были зарегистрированы долгоживущие молекулярные отрицательные ионы (рис. 1(а-в)). __ Бифенилфталид, (M-COOH) o 10000 T=80 C o T=200 C 2000 1000 5000 0 0 интенсивность (отн. ед.) интенсивность (отн. ед.) __ Фталид, (M-COOH) 3000 o T=240 C 2000 1000 0 4000 3000 o T=265 C 2000 1000 0 Фон 50 25 25000 20000 15000 10000 5000 0 o T=155 C 15000 o T=200 C 10000 5000 0 o T=240 C 20000 15000 10000 5000 0 o T=260 C 10000 0 5000 0 2 4 6 8 10 0 12 E (эВ) 0 2 4 6 8 10 12 E (эВ) __ Тетрафенилфталид, (M-COOH) o T=100 C 6000 интенсивность (отн. ед.) 4000 Рис. Ионы (M-COOH)- из: а) фталида; б) бифенилфталида; в) тетрафенилфталида при различных температурах молекулярного пучка. 2000 0 o 300000 T=170 C 200000 100000 0 o T=225 C 400000 300000 200000 100000 0 200000 o T=259 C 100000 0 0 2 4 6 8 10 12 E (эВ) Интересно отметить, что этот температурный эффект отсутствовал для аналогичных ионов из соединения I. Таким образом, регистрация осколочных ионов (М-СООН)из промежуточного резонасного состояния, характеризующегося образованием долгоживущих молекулярных отрицательных ионов молекул II и III, является непосредственным доказательством разрыва С-О связи в молекулярном ионе фталидов. Очевидно, что увеличение внутренней энергии этих молекулярных ионов путем повышения температуры молекул до их взаимодействия с электронами приводит к разрушению молекулярных ионов через образование ионов (МСООН)-. Очевидно также, что роста температуры до 270 оС для молекул I явно недостаточно, так как молекулярные отрицательные ионы из них характеризуются наибольшей активационной энергией для разрыва связи С-О согласно нашим экспериментам и расчетам. Кроме того, молекулярные отрицательные ионы из I характеризуются наименьшей величиной времени жизни относительно автоотщепления электронов. Последнее обстоятельство способствует тому, что разрушение молекулярных ионов путем выброса экстра-электрона может происходить значительно быстрее их распада путем диссоциации с выбросом СООН-группы. Работа частично поддержана грантами РФФИ № 02-03-33196 и № 01-02-16561. ЛИТЕРАТУРА 1. Зыков Б.Г., Васильев Ю.В., Фалько В.С., Лачинов А.Н., Хвостенко В.И., Гилева Н.Г. // Письма в ЖЭТФ. – Т. 64, вып. 6. – С. 402-406. 2. Vasil’ev Y.V., Zykov B.G., Lachinov V.S., Khvostenko V.I. and Gileva N.G. // Synthetic metals, 1977. – V.84. – P. 975-976.