Правительство Российской Федерации Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "Высшая школа экономики" Московский институт электроники и математики Национального исследовательского университета "Высшая школа экономики" Факультет электроники и телекоммуникаций Программа дисциплины: Материалы электронной техники. Материаловедение для направления 210100.62 - Электроника и наноэлектроника подготовки бакалавра Автор программы: Рыбалко В.В., к.т.н., доц., [email protected] Одобрена на заседании кафедры МТМиТ «31» августа 2012 г Зав. кафедрой ____________________________________________________В.П.Кулагин Рекомендована секцией УМС [Введите название секции УМС] «___»____________ 20 г Председатель [Введите И.О. Фамилия] Утверждена УС факультета [Введите название факультета] «___»_____________20 г. Ученый секретарь [Введите И.О. Фамилия] ________________________ [подпись] Москва, 2012 Настоящая программа не может быть использована другими подразделениями университета и другими вузами без разрешения кафедры-разработчика программы. 1. Цели и задачи дисциплины: Изучение дисциплины ставит своей целью научить студентов правильно оценивать и выбирать материалы для создания устройств электроники, обеспечивающие их надежность, долговечность, оптимальные массогабаритные и экономические характеристики на основе знания структуры и свойств материалов, а также методов воздействия на них. При этом рассматриваются следующие аспекты: - Установление зависимости между составом, структурой и свойствами материалов, - Изучение физической природы явлений, происходящих в функциональных и конструкционных материалах, используемых в электронике, при воздействии на них различных факторов в условиях производства и эксплуатации; - Изучение основных групп материалов, их свойств и областей применения. 2. Место дисциплины в структуре ООП: Дисциплина относится к учебному циклу Б2. Дисциплина требует наличия у студента знаний, умений и навыков, полученных в ходе изучения дисциплин «Общая химия» (1-2 семестры), "Физика" (2-4 семестры), Для изучения дисциплины студент должен обладать следующими компетенциями: ОК-10 – Способность использовать основные законы естественнонаучных дисциплин в профессиональной деятельности, применять методы математического анализа и моделирования, теоретического и экспериментального исследования. ПК-1 – Способность представлять адекватную современному уровню знаний научную картину мира на основе знания основных положений, законов и методов естественных наук и математики. ПК-2 – Способность выявлять естественно-научную сущность проблем, возникающих в ходе профессиональной деятельности, привлекать для их решения соответствующий физико-математический аппарат. ПК-6 – Способность собирать, обрабатывать, анализировать и систематизировать научно-техническую информацию по тематике исследования, использовать достижения отечественной и зарубежной науки, техники и технологии. ПК-18 – Способность собирать, анализировать и систематизировать отечественную и зарубежную научно-техническую информацию по тематике исследования в области электроники и наноэлектроники. 3. Требования к результатам освоения дисциплины: Процесс изучения дисциплины направлен на формирование следующих компетенций: ПК-6: способность собирать, обрабатывать и анализировать НТИ материаловедения, использовать достижения наука, техники и технологии. в области ПК-13: готовность внедрять результаты разработок в производство. ПК-14 – Способность выполнять работы по технологической подготовке производства материалов и изделий электронной техники. ПК-21: способность анализировать и систематизировать результаты исследований, представлять материалы в виде научных отчетов, презентаций, публикаций. В результате изучения дисциплины студент должен: Знать: физическую сущность явлений, происходящих в материалах в условиях производства и эксплуатации; их взаимосвязь со свойствами; основные свойства современных материалов; Уметь: оценивать поведение материала и причины отказов устройств электроники при воздействии на них различных эксплуатационных факторов: обоснованно выбирать материал и при необходимости его обработку для получения необходимой структуры и свойств, обеспечивающих высокую надежность и долговечность элементов электронной техники; Владеть: навыками выбора материалов различного назначения, а также работы с приборами, позволяющими определять свойства и оценивать функциональные характеристики материалов. 4. Объем дисциплины и виды учебной работы Общая трудоемкость дисциплины Всего часов / зачетны х единиц 144/4 Аудиторные занятия (всего) 90/2.5 Вид учебной работы В том числе: Семестры 4 144/4 90/2.5 - - Лекции 36/1 36/1 Практические занятия (ПЗ) 18/0.5 18/0.5 Семинары (С) - - Лабораторные работы (ЛР) 36/1 36/1 Самостоятельная работа (всего) 18/0.5 18/0.5 В том числе: - - Курсовой проект (работа) Расчетно-графические работы 18/0.5 18/0.5 36/1 36/1 Реферат Другие виды самостоятельной работы Вид промежуточной аттестации (экзамен) - - - - Общая трудоемкость 144/4 144/4 часы 4 4 зачетные единицы (Виды учебной работы указываются в соответствии) 5. Содержание дисциплины 5.1. Содержание разделов дисциплины № п/п 1 Наименование раздела дисциплины Проводящие и резистивные материалы 2 Магнитные материалы Содержание раздела Классификация материалов по составу, свойствам и назначению. Строение материалов. Дефекты кристаллического строения. Кристаллизация. Классификация, комплекс требований, предъявляемых к проводниковым материалам различного назначения: электропроводность, теплопроводность, механические, коррозионные свойства, стабильность по температуре и во времени, технологические свойства и т.п. Факторы, влияющие на электропроводность. Использование измерений удельного электросопротивления для исследований изменений структуры материалов в результате их обработки. Металлы и сплавы для проводников, основные требования. Медь, влияние примесей, способы упрочнения. Проводниковые сплавы на основе меди. Серебро, золото, платина, никель и сплавы на их основе. Металлы и сплавы высокого электросопротивления, назначение и основные требования. Сплавы для резисторов постоянных и переменных. Сплавы для нагревателей на никелевой, железной основе, на основе тугоплавких металлов, платины. Материалы для микросхем. Фильерный и литой микропровод. Особенности тонкопленочных материалов для резисторов и проводников, понятие о принципах получения, основные параметры, определяющие совместимость материалов, в том числе в интегральных микросхемах: КТР. адгезии, диффузионные характеристики и т.д. Классификация материалов по их отношению к магнитному полю. Ферромагнитные материалы. Обменное взаимодействие. Доменная структура, магнитная анизотропия. Намагничивание и премагничивание, магнитный гистерезис, влияние структуры. Магнитные свойства в переменных полях, потери на перемагничивание. Магнитная проницаемость. Зависимость магнитных свойств от температуры, точка Кюри. Магнитно-мягкие материалы. Металлические магнитномягкие материалы: структура, свойства, особенности 3 Диэлектрические материалы 4 Полупроводниковые материалы обработки. Сталь, железо-никелевые, железокобальтовые и железо-алюминиевые сплавы. Магнитномягкие ферриты. Магнитно-твердые материалы. Металлические магнитно-твердые материалы; структура, свойства, особенности обработки. Магнитно-твердые ферриты. Интерметаллические магнитно-твердые материалы. Материалы для записи и хранения информации. Магнитные материалы се специальными свойствами. Поляризация диэлектриков. Виды поляризации. Диэлектрическая проницаемость, ее зависимость от температуры и частоты внешнего поля. Полярные и неполярные диэлектрики. Электропроводность диэлектриков. Удельное объемное и поверхностное сопротивление, их зависимость от структуры материала, температуры и других факторов. Диэлектрические потери, их виды и характеристики: угол и тангенс угла диэлектрических потерь, их температурно-частотные зависимости. Пробой и электрическая прочность диэлектриков. Зависимость электрической прочности от структуры материала, его толщины, однородности электрического поля и других факторов. Стойкость диэлектриков к эксплуатационным условиям: механическим нагрузкам, температуре, влажности, химическим реагентам. излучению и т.д. Электроизоляционные и конденсаторные материалы, Полимеры, пластмассы, композиционные материалы, лаки эмали, компаунды, эластомеры, стекла, ситаллы, керамика. Активные диэлектрики. Материалы твердотельных лазеров, сегнето- и пьезоэлектрики, электреты, жидкокристаллические материалы. Материалы со специальными свойствами. Физико-химическая природа свойств материалов, отнесенных к категории полупроводников. Критерии, описывающие общие свойства полупроводников. Типы химической связи и механизмы переноса носителей заряда. Температурные коэффициенты электросопротивления, Ковалентная связь, гибридизация волновых функций валентных электронов в полупроводниках. Кристаллическая структура моноатомных полупроводников. Сильные и слабые связи в полупроводниках, анизотропия свойств монокристаллов. Особенности свойств и применения полупроводников в микроэлектронных устройствах (МЭУ). Германий и кремний. Требования к германию и кремнию, предназначенным для изготовления МЭУ, Исходные материалы для получения чистых германия и кремния, общее описание технологии их переработки. Получение объемных поликристаллов. Способы получения монокристаллов. Нелегированные и легированные полупроводники. Получение и свойства монокристаллов германия и кремния. Высокочистый и высокосовершенный монокристалл. Получение монокристаллов германия, кремния методами направленной кристаллизации, зонного переплава и Чохральского. Параметры, определяющие качество монокристаллов германия и кремния. Система обозначений монокристаллов германия и кремния в соответствии со стандартом. Поведение примесей в моноатомных алмазоподобных полупроводниках. Слабо, средне и сильно легированные германий и кремний, влияние степени легирования на их электрофизические характеристики при нормальной и повышенной температурах. Особенности диффузии примесей в германии и кремнии: корреляция коэффициента диффузии примеси с пределом ее растворимости и коэффициентом ее распределения. Дефекты в алмазоподобных моноатомных полупроводниках. Классификация дефектов в германии и кремнии в соответствии со стандартом. Макро- и микродефекты. Способы их выявления, их влияние на электрофизические параметры полупроводников и характеристики полупроводниковых приборов и МЭУ. Общие представления об электронике дефектов и требования к материалам для микроэлектроники по степени совершенства кристаллической структуры. Точечные дефекты в алмазоподобных полупроводниках. Происхождение точечных дефектов, их поведение, комплексообразование и влияние на свойства полупроводников. Линейные дефекты в алмазоподобных полупроводниках. Дислокации в алмазоподобных полупроводниках. Типы дислокаций и электроника дислокаций, их влияние на энергию кристалла и его зонную структуру. Плотность дислокаций, методы их наблюдения и определения плотности, скольжение и взаимодействие дислокаций между собой и с дефектами других типов. Хрупкость и пластичность алмазоподобных полупроводников. Пленочные алмазоподобные моноатрмные полупроводники. Получение, характеристики" и применение в микроэлектронике эпитаксиальных пленок кремния. Автоэпитаксиальные и гетероэпитаксиальные структуры. Проблемы легирования эпитаксиальных пленок. Дефекты эпитаксиальных кремниевых структур, возможности предотвращения их образования и уменьшения их плотности посредством постэпитаксиальной обработки. Поликристаллические пленки кремния. Получение, морфология, свойства и применение в микроэлектронике нелегированных и легированных поликристаллических пленок кремния. Алмазоподобные полупроводниковые соединения. Принципы формирования полупроводниковых соединений (ППС) типа АnВm: Гетероэпитаксиальные структуры на основе ППС типа А nВm. Другие типы полупроводниковых соединений (оксидные ППС, халькогенидные стеклообразные ППС и др). (Содержание указывается в дидактических единицах. По усмотрению разработчиков материал может излагаться не в форме таблицы) 5.2 Разделы дисциплины и междисциплинарные связи с обеспечиваемыми (последующими) дисциплинами № п/п 1. Наименование обеспечиваемых (последующих) дисциплин № № разделов данной дисциплины, необходимых для изучения обеспечиваемых (последующих) дисциплин 1 2 3 4 "Электрофизические методы + + + + обработки материалов" 2. ""Методы исследования материалов и + + структур микро- и наноэлектроники"; 3. Оборудование для получения + + + тонкоплёночных структур" имеет междисциплинарные связи с дисциплинами является предшествующей для изучения дисциплины (8 семестр). 5.3. Разделы дисциплин и виды занятий № Наименование раздела дисциплины п/п Лекц. Практ. Лаб. зан. зан. Семин . СРС Всего 8 8 10 26 2. Проводящие и резистивные материалы Магнитные материалы 8 8 8 24 3. Диэлектрические материалы 10 10 8 28 4. Полупроводниковые материалы 10 10 10 30 1. 6. Лабораторный практикум № № раздела дисциплины п / п Наименование лабораторных работ Трудоемкость (часы/за четные единиц 1. 1 1 Металлографический анализ ы) 4/0.11 1 Электрические свойства металлов и сплавов 4/0.11 1 Анализ микроморфологии методом РЭМ 2/0.6 2 Влияние пластической деформации на свойства 4/0.11 . 2. 2 . 3. 3 . 4. 4 пермаллоя . 5. 5 2 5 4/0.11 магнитомягких и магнитотвердых материалов . 6. Влияние термической обработки на свойства 3 Электрическая прочность диэлектриков 4/0.11 3 Диэлектрические потери и диэлектрическая 4/0.11 . 7. 5 проницаемость диэлектриков . 8. 4 4 Изучение распределения примеси в Si монокристалле 4/0.11 4 Изучение полевого контраста магнитных образцов в 2/0.06 . 9. 4 РЭМ . 10. 4 4 Исследование статических параметров ЦМД структур 4/0.11 . 7. Примерная тематика курсовых проектов (работ): Материалы для изготовления п/п лазеров Керамика электроизоляционная Материалы для токоведущих пленок интегральных схем Пористый кремний Термореактивные пластики 8. Учебно-методическое и информационное обеспечение дисциплины: а) основная литература: Бондаренко Г.Г., Кабанова Т.А., Рыбалко В.В. Материаловедение, М.: ЮРАЙТ, 2011, 360с. Пасынков В.В. Материалы электронной техники, М.: Высшая школа, 2005. 404 с. Горелик С.С., Дашевский М.Я. Материаловедение полупроводников и металловедение. М.: МИСиС, 2004. 481 с. б) дополнительная литература В.В.Рыбалко и др., Наноразмерные структуры, М., Изд-во МИЭМ. 2009, 92с. Евдокимов А.А. и др., Получение и исследование наноструктур, М., «Бином», 2010, 146с. в) программное обеспечение : Microsoft Office 2007; MatLab г) базы данных, информационно-справочные и поисковые системы: каталог БД Национальной нанотехнологической сети. 9. Материально-техническое обеспечение дисциплины: Лаборатория полупроводников и диэлектриков Лаборатория электронной микроскопии 10. Методические рекомендации по организации изучения дисциплины: В интерактивной форме проводится 18 часов Рабочая программа составлена в соответствии с Государственным образовательным стандартом высшего профессионального образования по направлению подготовки 210100 - Электроника и нанооэлектроника